| 非破壞性分析 X-RAY |
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| 在未破壞外觀前，無需破壞樣品，即可取得樣品的內部詳細結構或詳細元素或詳細化學結構。 非破壞檢測包括X-ray 技術取得細部架構2D或3D CT圖片；非破壞式XRF取得元素訊息，而一般常用的Spectrum光譜儀取得化學結構訊息，Ultrasonic超音波測試電子件孔洞或氣泡。 最常見的分析技術包括：穿透式X-ray影像應用於IC零元件、被動元件、金屬鑄件、複雜零件、多層高分子物件、印刷電路板、手機、面板、手錶等，無需任何拆解狀況下取的2D或3D (X-ray CT)的高解析圖片。 |
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240kV 高功率微米焦點及奈米焦點 3D X-ray CT
240kV High power microfocus and nanofocus 3D X-ray Computed Tomography system
產品型號：V|tome|x S240 -
300kV高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT
300kV High power microfocus and nanofocus 3D X-ray Computed Tomography system
產品型號：V|tome|x M300 -
穿透式影像檢測系統
X-ray Inspection system
產品型號：Microme|x NEO 160 -
穿透式影像檢測系統
X-ray Inspection system
產品型號：Microme|x NEO 180 -
穿透式影像檢測系統
X-ray Inspection system
產品型號：Nanome|x NEO 180 -
高精密大型CT系統
X-Ray Computed Tomography
產品型號：Vtomex L 450 -
高精密大型微/奈米CT系統
Nano X-Ray Computed Tomography
產品型號：Vtomex L 300 -
高精密微/奈米CT系统
Nano X-Ray Computed Tomography
產品型號：Vtomex L 240 -
高對比奈米焦點CT系統 X-Ray Image
High Contrast Nano X-Ray Image
產品型號：Nanotom m -
奈米級超高解析度檢測系統 X-Ray Image
High Resolution Nano X-Ray Image
產品型號：Nanomex -
微米級高解析度自動檢測系統 X-Ray Image
Micro X-Ray Automatic Image X-Ray Image
產品型號：Micromex -
微焦點檢測系統 X-Ray Image
Micro X-Ray Image
產品型號：X|aminer -
異物影像及元素混合型分析系統
產品型號：EA 8000
