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- 技術應用 -2025.11.10
X-ray螢光-XRF Hitachi桌上型XRF標準片全新升級—JAB認證6E標準片
Hitachi桌上型XRF標準片升級為JAB認證6E版本,符合ISO/IEC 17025國際標準,科邁斯科技提供保養校正服務,確保量測精度與品質穩定。
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- 儀器介紹 -2025.11.03
高解析顯微鏡 Hirox 3D數位顯微鏡如何運用360°旋轉鏡頭模組觀察電子元件的深處缺陷?
獨家專利360°旋轉鏡頭模組讓使用者在觀察具多層結構的樣品時,直接切換倍率與位置即能輕易放大與縮小所需要觀察深處的表面細節,不再需要製作特定角度的製具。
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- 技術原理 -2025.10.27
X-rite-色差儀 您的專業色彩管理夥伴 ─ 科邁斯科技,X-Rite Pantone 授權專業代理
科邁斯科技為 X-Rite & Pantone 官方授權代理,提供分光光度儀、色差儀、Judge LED 光源箱及專業色彩管理軟體。服務塑膠、塗料、紡織、電子產品、食品、化妝品、汽車等產業,確保研發到生產的色彩一致性與品質穩定。
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- 技術原理 -2025.10.20
熱分析-DSC DSC熱示差掃描量熱儀:高純度物質測量的關鍵技術與應用實例
本文詳細介紹差示掃描量熱儀(DSC)在高純度物質測量中的關鍵技術,包括純度計算方法、適用條件及實際測量注意事項。通過NIST標準物質非那西汀的測量實例,展示DSC在醫藥品等領域的應用價值,幫助用戶快速掌握高精度純度分析的技術要點。
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- 技術應用 -2025.10.13
熱分析-DSC 高純度分析新突破:利用 DSC 精準掌握有機化合物純度
隨著高純度原料藥(API)需求日增,市場對「快速、準確的純度分析」需求持續升溫。傳統化學滴定法或色譜法需繁複的樣品前處理,而 DSC 純度分析技術已成為製藥產業、精細化工與高分子合成實驗室的主流選擇。配合高靈敏度儀器與專用純度分析模組,DSC 不僅能提供精確的純度數據,也可大幅提升 QC 與研發效率。
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- 技術應用 -2025.09.30
熱分析-STA Hitachi NEXTA® STA 溫度調變技術Temperature modulated DSC (TM-DSC) 比熱量測應用
在材料開發與品質控制的過程中,「比熱容(Specific Heat Capacity)」是評估材料熱性能的重要指標之一。它不僅影響熱傳導與熱穩定性,更是許多熱工程設計中的關鍵參數。隨著高性能材料的需求日益提升,如何精準、快速地測量比熱容,成為了實驗室與產業界共同關注的課題。本篇電子報將帶您認識比熱容的測量方式,並介紹使用差示掃描量熱儀(DSC)與同步熱分析儀(STA)進行比熱分析的實務應用。
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- 技術應用 -2025.09.22
X-ray螢光-XRF 假金也不怕火煉:XRF 在錸(Re)與貴金屬鑑定的關鍵技術應用
XRF與專業團隊結合,提供非破壞、高靈敏度的貴金屬檢測方案,幫助回收業者防堵錸金風險,提升效率與安全。
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- 技術應用 -2025.09.15
熱傳導-TC AlSiC材料在高功率散熱元件中的應用與熱管理性能分析
鋁碳化矽(AlSiC)因具備高導熱性與可調控熱膨脹係數的特性,廣泛應用於高功率模組與先進封裝材料。本篇結合科邁斯科技的熱分析&熱傳導解決方案,深入解析AlSiC的導熱性能與TMA熱膨脹測試應用,幫助用戶更精準掌握材料的熱性質,打造穩定可靠的熱管理系統。
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- 技術原理 -2025.09.08
X-ray影像-X-ray 3D Xray CT掃描成像品質關鍵 ─ 為何Pixel Size決定你的影像深度與細節?
不同Pixel Size的探測器會影響工業X光CT成像的解析度與細節還原度。較小像素可呈現精細結構,適合高解析需求;較大像素則利於快速檢測大尺寸工件。本文深入解析影像品質關鍵因素,協助您選擇最適合的CT方案。
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- 技術訊息 -2025.08.28
高解析顯微鏡 雙光源系統搭配共軛焦光學:讓成像解析度更佳
雙光源共軛焦顯微鏡透過對光源波長與焦點的控制,提高對材質表面與3D微結構的觀察解析度。共軛焦光學系統有效降低光源干擾,並增強Z軸解析度。










