• 專業因知識而累積
  • <b>X-ray螢光-XRF</b> 使用X射線螢光分析儀(XRF)作廢爐渣的成分檢測
    - 技術原理 -
    2011.11.24

    X-ray螢光-XRF 使用X射線螢光分析儀(XRF)作廢爐渣的成分檢測

    這幾年來常常出現很多的環保議題,如:”詭異藍海奇觀-中鋼爐石填海造陸”,中鋼在小港使用爐渣填海造陸而汙染海水使其變成一片藍色;以及眾多填爐石造陸的爐石汙染奇景一一在台灣上演。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> 車輛燃料用油中硫(S)控管
    - 技術原理 -
    2011.11.18

    X-ray螢光-XRF 車輛燃料用油中硫(S)控管

    美國環保署(US EPA)繼 2006 年規定道路交通工具所使用的柴油含硫量降至 15ppm後,2007年6月1日起更嚴格加強火車、船舶及其他非道路陸地上引擎所使用柴油的含硫量標準,從 3000ppm 降至500ppm。非道路陸地上引擎所使用柴油的含硫量將在 2010年減至道路交通工具所使用柴油的相同標準,而船舶所使用的柴油含硫量則將在 2012年降至 15ppm 標準,其目的在降低有害廢氣的排放。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> CIGS薄型太陽能電池的品管檢測
    - 技術原理 -
    2011.09.13

    X-ray螢光-XRF CIGS薄型太陽能電池的品管檢測

    近年來,太陽能產業發展迅速,不只在技術上,轉換效能、厚度、重量,甚至到太陽能板的製程,都有一些突破性的改變,從以往的矽晶型到現在的薄膜化合物型(EX:非矽晶、CIGS、CdTe…等等),朝向輕薄且高效能的方向邁進。

  • <b>熱傳導-TC</b> 熱傳導標準檢驗方法 ISO 22007-2 正式上路
    - 技術原理 -
    2011.03.15

    熱傳導-TC 熱傳導標準檢驗方法 ISO 22007-2 正式上路

    熱傳導測試一直以來都是散熱材料檢驗中最重要的參數之一,而測試的技術多為早期的熱板或熱流測試法,可測試的材料都需要有「固定的尺寸及厚度」,對於較高傳導的薄型散熱材料,如:高分子薄膜、合金、陶瓷或石墨片來說,都無法以早期的技術進行測試。
     

  • <b>熱傳導-TC</b> 散熱能力主要評估依據
    - 技術原理 -
    2011.01.14

    熱傳導-TC 散熱能力主要評估依據

    「熱傳導係數」是目前材料散熱能力的主要參考數值之一, 一般常見的標準測試方法是ASTM及ISO. 從過去20年到現在,熱傳導測試的方法都沒有新增,而ISO DIS 22007-2是唯一有配合材料在日新月異的環境下,產生各種應用, 各種新材料生產, 而正式認證的方法;並在2008年年底正式公告。

  • <b>離子層析-IC</b> 離子層析儀(IC)檢測無鹵素之前處理-氧彈法及氧瓶法比較表
    - 技術原理 -
    2009.08.14

    離子層析-IC 離子層析儀(IC)檢測無鹵素之前處理-氧彈法及氧瓶法比較表

    氧彈法及氧瓶法的比較表

  • <b>熱分析</b> Hot Disk 在發泡材料低溫的變溫測試
    - 技術原理 -
    2009.05.11

    熱分析 Hot Disk 在發泡材料低溫的變溫測試

    在建築材料或控溫系統中,隔熱材料是關鍵性的設計重點之一,控溫系統使用的溫度範圍中,材料特性需要配合溫度範圍改變,因為材料的熱傳導特性與溫度有直接的關聯。同理可證,電子材料的散熱效果與其使用的散熱材料之熱傳導特性有絕對關係。材料熱傳導特性隨溫度變化的曲線無法完全預測,因為有些材料是呈線性變化,有些則是呈曲線變化。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> 元素週期表查詢
    - 技術原理 -
    2009.01.09

    X-ray螢光-XRF 元素週期表查詢

  • - 技術原理 -
    2008.01.12

    熱分析-DSC 熱示差掃瞄卡量計(DSC)原理

    熱示差掃瞄卡量計(Differential Scanning Calorimeter, DSC)是用於量測樣品材料在特定溫度條件下的能量變化情形的儀器。其主要原理係將樣品置於一個可透過程控式升溫、降溫或恆溫的加熱爐中,通入氮氣、氧氣等環境氣體,當樣品發生蒸發、融熔、結晶等相變化時,會伴隨能量的吸放熱變化,而藉由能量隨溫度或時間的變化情形,即可判定材料的反應熱、熔點、玻璃化溫度、結晶溫度、比熱、熱穩定性、氧化安定性、交聯反應熱、及動力學分析等。(TechMax Technical Co., Ltd., Nov. 2003)

  • - 技術原理 -
    2007.12.24

    X-ray螢光-XRF 無鹵素材料(Halogen Free)專用分析儀-離子層析儀(Ion Chromatography,IC)原理簡介

    利用離子交換的原理,採用Dow Chemical公司專利的高效率離子交換樹脂,配合可泵送定流量溶媒(eluent)之泵浦,高靈敏度之電導計,記錄器等,分析程序是(如圖),由泵浦泵送定流量溶媒,並將由注入口注入之被檢體,推送入分離管(Separation column),在管中各離子經過樹脂交換而分離,然後依次再被推送入抑制管(Suppressor Column),此時溶媒之離子都被抑制管吸附,不會影響電導計之檢出,而祇有所欲分析的離子被沖洗出來,進入電導計中,由其進入的順序及時間(Retention time)來定性,由電導度之大小來定量,這些都以尖峰(peaks)的型態,出現在記錄器上。在抑制管中,反應方程式如下:

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