• 專業因知識而累積
  • <b>質譜儀-Mass</b> Py/TD-GC-MS分析PVC製品中的塑化劑替代品
    - 技術應用 -
    2022.07.25

    質譜儀-Mass Py/TD-GC-MS分析PVC製品中的塑化劑替代品

    使用Py/TD-GC-MS分析塑膠製品中的塑化劑,可省去樣品前處理的時間,達到快速定量的效果,搭配質譜儀SIM/SCAN Mode,可分辨滯留時間相近的結構異構物。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> 鍍層(Coating)膜厚監控,運用XRF有效穩定控管產品質量!
    - 技術應用 -
    2022.06.13

    X-ray螢光-XRF 鍍層(Coating)膜厚監控,運用XRF有效穩定控管產品質量!

    日立Hitachi EA系列是到目前為止全球最普遍用來作為RoHS及無鹵素監控的XRF設備,從SEA1000A, SEA1000AII,進化到EA1000AIII, EA1000VX, EA1200VX,至目前最新最高階的高感度EA1400,皆可擴用至膜厚分析。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> 輕元素不再困擾,Hitachi EA1400讓你「輕」鬆檢測
    - 技術應用 -
    2022.04.26

    X-ray螢光-XRF 輕元素不再困擾,Hitachi EA1400讓你「輕」鬆檢測

    XRF螢光元素分析儀過往用於RoHS限用物質,對於較低的輕元素含量或鄰近之輕元素,無法有較好的分析能力 ; 而去年發表搭載新型高感度檢測器的Hitachi EA1400,對於現行材料分析上的「輕」元素類別:鈉(Na)、鎂(Mg)、鋁(Al)、矽(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl),有絕佳的分析能力。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> Hitachi EA1400 XRF首創高精度表現,引領業界環保巔峰!
    - 技術應用 -
    2022.03.07

    X-ray螢光-XRF Hitachi EA1400 XRF首創高精度表現,引領業界環保巔峰!

    日立Hitachi推成出新領先工藝的高階EA1400桌上型XRF,針對國際電工委員會(IEC)標準,鑑於過往傳統XRF技術發展受限, Hitachi EA1400 測試各式國際標準品的數據再現性穩定度大幅提升,可確保儀器在進行大量樣品時設備的高穩定性。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> XRF於電動車產業環保法規中有害重金屬物質快篩應用
    - 相關法規 -
    2022.02.21

    X-ray螢光-XRF XRF於電動車產業環保法規中有害重金屬物質快篩應用

    在環保意識抬頭的時代,無論是傳統汽車或是電動車都需符合歐盟RoHS, ELV及REACH指令等,透過Olympus Vanta系列手持式螢光分析儀(XRF) 即可針對環保指令中主要管制有害物質重金屬進行快篩檢測。

  • <b>質譜儀-Mass</b> 看似平凡的矽膠,你知道裡面暗藏了什麼秘密嗎??
    - 技術應用 -
    2021.11.01

    質譜儀-Mass 看似平凡的矽膠,你知道裡面暗藏了什麼秘密嗎??

    矽膠是日常生活中非常常見的產品,它擁有良好的耐高低溫性、耐候性、延展性、耐化學性,不論是應用在日常生活用品中,也經常使用在醫療用具、電子設備、航太工程...等等,本實驗使用Pyrolysis PY-3030D熱裂解儀與GC-MS Q1500GC質譜儀來檢測我們使用的矽膠到底藏了什麼秘密。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> TSCA公布 含有五項PBTs 禁止輸入美國
    - 相關法規 -
    2021.09.29

    X-ray螢光-XRF TSCA公布 含有五項PBTs 禁止輸入美國

    TSCA為有毒物質控制法,TSCA公布原物料及成品含有五項PBT物質禁止輸入美國,分別介紹關於這5項PBTs 管制範圍及個別生效時間,以及用XRF和GCMS應對方法。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> 重金屬鎘(Cd)於RoHS指令、IEEE 1680標準的重要性
    - 相關法規 -
    2021.09.06

    X-ray螢光-XRF 重金屬鎘(Cd)於RoHS指令、IEEE 1680標準的重要性

    在電子電器產品中,重金屬鎘(Cd),分別是歐盟RoHS指令以及IEEE 1680中,禁止及管控的有害物質。如何透過X射線螢光分析儀,例如手持式XRF、桌上型XRF來檢測重金屬鎘(Cd),是重要的課題。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> Hitachi日立XRF檢測下限新知
    - 技術應用 -
    2021.06.28

    X-ray螢光-XRF Hitachi日立XRF檢測下限新知

    第三方的檢測報告呈現N.D.代表甚麼意思?
    儀器的檢測下限描述又為何呢?
    XRF的LOD與甚麼因素有關係?
    讓我們在這篇文章一次告訴您。

  • <b>X-ray螢光-XRF</b> EA 1400的新型檢測器SDD跟傳統XRF檢測器SDD的巨大差異
    - 儀器介紹 -
    2021.06.07

    X-ray螢光-XRF EA 1400的新型檢測器SDD跟傳統XRF檢測器SDD的巨大差異

    EA1400 VX搭配新型高光通量的檢測器silicon drift detector SDD比傳統SDD XRF光電子效率增加30~75%,對於輕元素鈉(Na)、鎂(Mg)、鋁(Al)、矽(Si)、磷(P)、硫(S)、鈣(Ca)的定性及定量應用比同樣SDD檢測器的機型靈敏度高8~10倍以上,適合金屬、陶瓷、高分子領域應用,與我們之前的型號EA1000VX或同類型SDD XRF相比,測量黃銅和其他金屬中痕量元素鎘(Cd)的檢測下限及降低測試時間的效益增加2倍以上。

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