- 技術應用 -
07.Mar.2022
X-ray螢光-XRF Hitachi EA1400 XRF首創高精度表現，引領業界環保巔峰!
帶您了解XRF螢光元素分析儀測試表現
隨科技日新月異，XRF螢光元素分析儀對於電子大廠的需求也越來越廣泛普及，日立Hitachi推成出新領先工藝的高階EA1400桌上型XRF，也針對各行各業的指標先進電子大廠，取得更準確且更穩定的測試水準表現。
一般傳統無論是桌上型XRF還是手持式XRF，針對國際電工委員會(IEC)標準，鑑於過往傳統XRF技術發展受限，國際普遍僅供列30%的參考誤差，然而針對現行終端大廠客戶和儀器的技術水準快速提升，越來越多客戶無法接納XRF儀器測試上的不穩定性，因此無論是國際上還是儀器原廠，都將標準品的精準度及重複表現性，當做儀器性能的優先指標。
以下提供Hitachi EA1400桌上型XRF測試具有最高規範的ISO17025一級標準品之再現性：
| 檢測及校準實驗室採用最高規範ISO/IEC 17025:2005一級實驗室Hitachi標準品 | |
 |
| EA1400針對正式一級實驗室ISO17025標準品10次重複測試相對標準偏差(RSD) | |
 |
以下提供Hitachi EA1400測試顆粒狀的EC681k二級標準品：
| EC681k 標準品成分表 | |
 |
| EA1400針對EC681k中10次重複測試相對標準偏差(RSD) | |
 |
以下提供Hitachi EA1400測試顆粒狀的最新EC681M二級標準品：
| 最新EC681M 標準品成分表 |
 |
| EA1400針對最新EC681M中7次重複測試相對標準偏差(RSD) |
 |
以上數據是將各種國際標準品以EA1400進行重複測試以驗證設備再現性及穩定度，可確保儀器在進行大量樣品時的分析儀穩定性。避免因不同使用者進行的測試誤差。
「工欲善其事，必先利其器」高規格的Hitachi EA1400可讓您對於RoHS和各式元素精密分析或法規控管巧奪天工受益良多。
若有任何技術問題或產品需求，歡迎與我們聯絡！
其他相關訊息
-
01.Apr.2024質譜儀-Mass 不挑選樣品型態之DART-TOFMS應用於濫用藥物即時分析
-
25.Mar.2024雷射剝離 綠光雷射剝離加工機應用在PI(聚醯亞胺)膜加工的3大優勢
-
11.Mar.2024熱分析-DSC DSC用於環氧樹脂的固化率測量與工業應用
