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02.Jun.2025
X ray影像-X-ray Flex | Scan技術升級:提升3D X-ray CT應對多樣工件的能力
Flex | Scan 技術升級:提升 3D X-ray CT 應對多樣工件的能力
電子產品小型化與複雜化趨勢加速,使傳統 3D X-ray CT 面臨解析度與工件尺寸兼容性的挑戰。隨著產品結構日益複雜、多樣化,傳統系統在應對不同工件與檢測條件時,常面臨樣品大小影響分辨率。Waygate Technologies 推出的 Flex | Scan 系統,提供高度靈活軌跡來提高體素分辨率,特別適用於電子產業中較高長寬比的樣品,例如電路板(PCB)。
為了擴展應用彈性並降低導入成本,Waygate Technologies 同步提供軟體層級支援。透過 Datos|x 軟體升級至 3.1 版本,使用者無需更換硬體設備,即可在 VTOMEX S 240 與 VTOMEX M 300 等既有機台上啟用 Flex | Scan 功能。這不僅降低了導入門檻,也讓現有系統能因應更高解析度的影像需求,有效支援多樣化的產品結構與快速演進的製程設計。
本文將深入探討 Flex | Scan 的系統架構與核心優勢,說明其如何協助電子製造業者提升檢測影像分辨率,並因應快速變化的產品設計與製程挑戰。
項目 | Normal CT | Flex CT |
---|---|---|
旋轉路徑 | 圓形(中心固定,等距旋轉) | 橢圓形(樣品離光源/探測器距離會變) |
放大倍率 | 固定不變 | 動態變化(靠近→高解析,遠離→廣角) |
技術背後邏輯 | 幾何簡單 → 成像均一 | 幾何複雜 → 成像靈活,能針對重點放大掃描 |
視覺差異 | 看起來路徑「正圓」 | 看起來像有點拉長、偏移 |

▲圖一 Normal CT 與 Flex|Scan 掃描軌跡示意圖

▲圖二 Flex | Scan 與標準 CT 掃描結果對比圖,體現解析度優勢
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