X-ray螢光-XRF 移動式膜厚鍍層分析(XRF Coating)

金屬鍍層

是一種常用的表面處裡技術，將金屬或合金覆蓋在另外一種材質上，這個過程可以在不同材料上應用，包括金屬、薄膜、塑料、陶瓷和其他材料，以改善基材的性能、外觀及耐用性，因此透過有效的金屬鍍層厚度管控，能確保產品的厚度符合標準，並滿足客戶的需求。

以往檢測膜厚皆需要透過桌上型的XRF膜厚分析儀，設限於體積大小以及便利程度，目前Evident Olympus XRF可在手持的情況下，透過分析不同元素的信號強度，在非破壞的情況下，僅需短短10秒鐘的時間，即可推算出金屬鍍層的厚度，其攜帶方便的特點使得樣品的大小不受限制，達到了快速且精準進行品質管控的目的。

Evident Vanta XRF

在精準分析各種金屬鍍層厚度方面的關鍵之一，就是建立相應的標準品。為此，我們針對幾種常見元素鍍層做重複性測試(詳下方圖表)，將XRF標準品實際厚度建立在並進行回測後，實際數值與標準品數值非常相近，三次測試結果並說明Vanta XRF的準確性及再現性。

Zn/Fe 標準值	Zn:4.9um	Zn:15.3um
回測-1	4.91	15.29
回測-2	4.93	15.29
回測-3	4.94	15.30

▲表一 Vanta XRF 鐵鍍鋅(Zn)4.9um、15.3um標準品鍍層分析

Ni/Fe 標準值	Ni:9.9um	Ni:15.0um
回測-1	10.04	15.05
回測-2	10.05	15.02
回測-3	10.03	15.03

▲表二 Vanta XRF 鐵鍍鎳(Ni)9.9um、15.0um標準品鍍層分析

Ni/Al 標準值	Ni:9.2um	Ni:15.1um
回測-1	9.14	15.14
回測-2	9.18	15.13
回測-3	9.18	15.09

▲表三 Vanta XRF 鋁鍍鎳(Ni)9.2um、15.1um鍍層分析

透過上述的分析中可得知，Evident Vanta XRF確實在精確度上能符合客戶端的需求，使用者可以透過即時的測量數據來建立基準，而不僅僅依賴於已知標準樣品的校準。使用者可以選擇一個具有已知厚度或組成的參考樣品，將其放入儀器進行測量及校正。Vanta XRF會根據這個參考樣品的測量結果建立基準。之後，使用者可以將這個基準應用到後續的樣品測量，更加方便地進行現場測量、校正和品質控制。

當然Evident Olympus XRF也具備同時測量多層鍍層厚度的能力，詳圖一可達到三層的厚度分析。使用者可以透過輸入已知鍍層元素的資訊(如圖二)，讓設備快速而精確地分析每層的厚度資訊(如圖三)。