
SEA1200VX
桌上型X射線螢光分析儀
(Desk-Top X-ray Fluorescent Analyzer, XRF)
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1.採用Vortex高解析度之矽半導體多陰極檢測器,為一般SEM/EDX專用之高階檢測器,不需要使用液態氮冷卻。
2.高計數率設計的Vortex檢測器,計數率可達150,000 cps,是一般檢測器的15~20倍,能接受更多的X螢光訊號,針對合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的應用極佳。 -
測定元素原子編號 11 (Na) ~ 83 (U)樣品形態固體,粉末,液體X光管小型空冷式X射線管球(Rh靶)管電壓: 15kV, 30kV, 40kV, 50kV 管電流:1mA檢測器Si 半導體檢測器 (無需液態氮)準直器1mm, 5mm自動切換樣品觀察彩色CCD攝像頭濾波器5種模式自動切換樣品室430(W)*320(D)*209(H)mmX-ray Station筆記型電腦或桌上型電腦(OS; MS-windows XP)印表機(選購)噴墨印表機定性分析弁?/div>能譜測定,自動辨別,圖譜比對定量分析弁?/div>KLM 標示表示,,差異表示,塊體FP法,標準曲線法統計處理弁?/div>MS-EXCEL報告製作MS-WORD設置尺寸1080(W)*750(D)*810(H)mm(不含印表機)重量90kg使用電源AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A選購有害物質判定軟體能譜匹配軟體(材料判定)薄膜標準曲線軟體樣品進樣器準直器: 3mmΦ真空泵(輕元素分析用)標準品 (金屬電鍍薄膜厚度標樣, RoHS標樣)
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