• 品質因細節而決定

桌上型螢光分析儀 XRF 產品型號:EA1400

採用新一代的矽漂移探測器(SDD)並搭配真空系統,可以有效地降低大氣背景的干擾問題;X-ray及觀測鏡頭同軸設計可大幅提升測試精確性,進而提升各元素的檢測訊號,對於應用在表面不平整的樣品測試上有極佳的效果;同時,EA1400也是專業的元素分析儀,分析元素由Na~U都可以檢測,以應付各種高質量的測量需求。
 
#法規及規範 #金屬分析/PMI # 材料分析 #元素成分分析 #環境分析/EPA
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  • 全新的矽漂移探測器(SDD)設計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質的準確度和速度。新優化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規則表面的可重現性。此外,高性能探測器能提高計數率,增加探測痕量元素的精密度,並且實現測量較輕元素的卓越能力。為了確保最高生產率,將黃銅中鎘的篩查(通常是XRF RoHS篩查中最具挑戰性的一項)功能設計成比傳統型號速度更快,從而大幅提高通量。

    該軟體的一項內置功能可直觀標記超出預設濃度限制的預定義元素。使用精密度控制軟體的EA1400一旦達到預定義參數將自動停止分析。可在預定義測量時間之前確定合格/失敗情況,由此可增加測量多件樣本的通量,從而節省時間且不會影響品質計畫。

    除了RoHS篩查,EA1400也能夠辨別礦渣(矽、鈣、鋁和鎂)、聚合物、礦物、化學品和其他材料中的主要成分。
     
  • 項目 描述
    測定元素 原子序編號 11 (Na) ~ 92(U)
    測試環境

    一般大氣 (Al~U)
    真空系統(Na~U)*選配

    X-ray 照射方向 X射線垂直照射(樣品同軸觀察)
    X光管 小型空冷式X射線管球(Rh靶)
    檢測器 新款矽半導體檢測器(SDD)
    准直器 1, 3, 5mm
    濾波器 5種模式自動切換
    樣品室 304(W)×304(D)×110(H)mm
    重量 69Kg
    電力需求 AC100~240V (50/60Hz)/190VA
    自動樣品轉盤 可加裝12組樣品轉盤 *選配
  • ▶ RoHS/WEEE
    (1) 滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析,例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
    (2) 針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準,利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法,滿足廠商簡易的需求。

    ▶ 電子大廠重金屬規範
    (1) Sony-GP(Green Partner) SS-00259有害物質認證
    (2) Apple 069-0135禁用物質規範
    (3) Samsung Eco-Partner認證
    (4) 廣達、宏碁、HTC、華碩、台達、友達等國內大廠重金屬規範
    (5) HP、Panasonic、molex、Toyota、Foxconn、3M等國際大廠重金屬規範

    ▶ 合金分析
    (1) 金屬材料品質控管:合金中主成份的快速分析。
    (2) 合金成份的鑒定:有效分辨材質相近合金種類,如:304/321
    (3) 貴金屬的分析鑒定:貴金屬金、鈀、鉑、銀等含量分析
    (4) 金屬回收與分類:依金屬成份含量做分類
    (5) 回收汽車催化劑中,金、鉑、銠的成份分析

    ▶ 油品分析
    (1) 燃料中的硫含量對環境的影響:XRF 為最有效檢測燃料中硫成份的工具(依據ASTM D4294)
    (2) 監測潤滑油中重金屬的成分:精油油品中Fe, V, Cu, Cr, Ni, Pb 可以提早知道引擎中是否有不正常的金屬磨損(依據ASTM D6481)

    ▶ 鍍層厚度分析
    (1) 分析電子部品電鍍層的厚度
    (2) 各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
    (3) 各鍍層的成分比例分析

    ▶ 空氣環境監測
    在空氣過濾介質、灰塵抹布的含鉛方面符合NIOSH Method7702,OSHA Methods OSSAI,OSSI 。

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