• 品質因細節而決定

桌上型X射線螢光元素分析儀 產品型號:EA1000AIII

#法規及規範 #金屬分析/PMI # 材料分析 #元素成分分析 #環境分析/EPA
TECHMAX_CN_PRODUCTS_HITACHI_EA1000AIII_01
  • 1.各大廠認可針對塑膠及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀
    2.採用高靈敏度矽半導體偵測,無須液態氮
    3.配備CCD監視器
    4.具備形狀、厚度、材質補正技術(Hitachi專利)
    5.材料判定功能
    6.分析線自動切換判別功能
    7.超低檢測下限的(Cd:1.9ppm;Pb: 0.9ppm)
  • 項目 描述
    測定元素 原子序編號 13 (Al) ~ 92 (U)
    樣品形態 固體,粉末,液體
    X光管 小型空冷式X射線管球(Rh靶)
    管電壓:15kV, 50kV
    管電流:1mA
    檢測器 Si半導體檢測器 (無需液態氮)
    準直器 1mm, 3mm, 5mm (自動切換)
    樣品觀察 彩色CCD攝像頭
    濾波器 5種模式自動切換 (含OFF濾波器)
    樣品室 370(W) x 320(D) x 120(H)mm
    X-ray Station 筆記電腦或桌上型電腦 (OS; MS-windows WIN7)
    定性分析功能 能譜測定,自動辨別,KLM標記表示,圖譜比對,差異表示
    定量分析功能 塊體基本參數法,塊體標準檢量線法
    報告製作 MS-WORD,MS-EXCEL
    設置尺寸 1500(W) x 1000(D) mm (不含印表機)
    重量 約60kg
    使用電源 AC100 ~ 240V,±10%,單相三線
    選購配件
    • Film FP (薄膜FP軟體)
    • Film CAL (薄膜標準曲線軟體)
    • Spectrum Matching Software ( Material Discrimination)
    • Hazardous Substance Measurement Software Ver.1
    • Sample changer (自動取樣器,最多可放12樣品)
    • Standard Reference Samples for various environmental regulations
  • ▶ RoHS/WEEE
    (1) 滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析,例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
    (2) 針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準,利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法,滿足廠商簡易的需求。

    ▶ 電子大廠重金屬規範
    (1) Sony-GP(Green Partner) SS-00259有害物質認證
    (2) Apple 069-0135禁用物質規範
    (3) Samsung Eco-Partner認證
    (4) 廣達、宏碁、HTC、華碩、台達、友達等國內大廠重金屬規範
    (5) HP、Panasonic、molex、Toyota、Foxconn、3M等國際大廠重金屬規範

    ▶ 合金分析
    (1) 金屬材料品質控管:合金中主成份的快速分析。
    (2) 合金成份的鑒定:有效分辨材質相近合金種類,如:304/321
    (3) 貴金屬的分析鑒定:貴金屬金、鈀、鉑、銀等含量分析
    (4) 金屬回收與分類:依金屬成份含量做分類
    (5) 回收汽車催化劑中,金、鉑、銠的成份分析

    ▶ 油品分析
    (1) 燃料中的硫含量對環境的影響:XRF 為最有效檢測燃料中硫成份的工具(依據ASTM D4294)
    (2) 監測潤滑油中重金屬的成分:精油油品中Fe, V, Cu, Cr, Ni, Pb 可以提早知道引擎中是否有不正常的金屬磨損(依據ASTM D6481)

    ▶ 鍍層厚度分析
    (1) 分析電子部品電鍍層的厚度
    (2) 各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
    (3) 各鍍層的成分比例分析

    ▶ 空氣環境監測
    在空氣過濾介質、灰塵抹布的含鉛方面符合NIOSH Method7702,OSHA Methods OSSAI,OSSI 。

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