Nanotom s

奈米焦點高分辨率CT系統
(Nanotom s)

主要特色:
  • 180 kV/ 15 Wnanfocus CT®系統,擁有長久耐用的開放式X射線管,只需要少量的維護即可。
  • 高精度-空氣軸承旋轉裝置提供了高精準的CT掃描影像
  • 通過菱形或窗口(可選擇)以同樣的高分辨率影像水平進行快達2倍的資料採集
  • 基於花崗岩的操作和可選擇性的熱安定性,提供最高的精密度及高穩定性
  • 可於1小時之內自動生成第一件檢測記錄
  • 提供從亞um到高強度應用模式的4種操作模組
  • 使用極佳的軟體模組以確保最高的CT影像質量且易於使用,例如:
        使用datos / x 2.0點選並直接測量CT來進行高精度度並可重現的3D測量: CT掃描、重組及分析過程的全自動化執行。
        通過VELO / CT在幾秒鐘或幾分鐘內(取決於樣品體積大小)完成更快速的3D-CT重組影像
  • 極為精簡的掃描系統,非常適用於小型實驗室使用。 

    3D電腦斷層掃描

    材料科學

    nanoCT可以將圖層面板逐層顯示 玻璃纖維複合材料的nano-CT ®:纖維氈(藍色)的纖維方向和基質樹脂(橙色)會清楚顯示出來
     

    感應器學和電氣工程

     

    測量

    利用3D檢視焊接接點內部的空隙間隙分佈清晰可見 對氣缸蓋3個裝置的CAD差異分析和測量
     

    塑料工程

     

    地質/生物科學

    玻璃纖維增強塑料樣品的nano-CT ®: 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分佈都清晰可見。纖維大約有10um寬 高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測地質樣品
  • 設備規格
     
    最大管電壓
    180 kV
    最大功率
    15 W
    細節檢測能力
    高達200nm (0.2µm)
    最小焦物距
    0.4um
    最大3D像素分辨率
    < 500nm (0.5µm)
    幾何放大倍率(3D)
    1.5 倍到100 倍
    最大目標尺寸(高x 直徑)
    150mm x 240mm/ 5.9" x 6.4"
    最大樣品重量
    2 kg/ 4.4 lb
    圖像鏈
    500萬畫素平板數位檢測器陣列
    2D X射線成像
    不可
    3D電腦斷層掃描
    可以
    先進的表面提取
    可以(可選)
    CAD 比較+ 尺寸測量
    可以(可選)
    系統尺寸
    (1640 x 1430 x 750 mm), (64.6” x 56.3” x 29.5”)
    系統重量
    1300kg/ 2866 lb
    輻射安全
    - 全防輻射安全機櫃,依據德國ROV和美國性能標準
    21 CFR 1020.40 (機櫃X-Ray系統)。
    - 輻射洩漏率:從機台壁的10cm處測量 <1.0µSv/h。
    地質/生物科學
    高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測地質樣品,例如:新資源的探索。高分辨率CT-系統以微觀高解析提供岩石樣品、粘合劑、膠合劑和空洞的3D圖像,並幫助分辨特定的樣品特徵,如含油岩石中空洞的大小和位置。
    塑料工程
    在塑料工程中,高分辨率的X射線技術用於通過探測縮孔、水泡、焊接線和裂縫並分析缺陷來優化鑄造和噴塗過程。 X射線計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct)提供具有以下物體特點的3D圖像:如晶粒流模式和填料分佈,以及低對比度缺陷。
    玻璃纖維增強塑料樣品的nano-CT ®: 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分佈都清晰可見。纖維大約有10um寬。
    測量
    用X射線進行的3D測量是唯一的可對複雜物體內部進行無損測量的技術。通過與傳統式觸覺坐標測量技術的比較,對一個物體進行電腦斷層掃描的同時可獲得所有的曲點: 包括所有無法使用其他測量方法無損害進入的隱蔽形體,如底切。 v/tome/xs 有一個特殊的3D測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準儀器到表面提取模組,具有可能的最大精度,可再現且具親和力. 除了2D壁厚測量外,CT數據可以快速方便地與CAD數據進行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規定尺寸。
    對氣缸蓋3個裝置的CAD差異分析和測量。
    感應器學和電氣工程
    在感應器和電子組件的檢測中,高分辨率X射線技術主要用於檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。甚至可以檢測半導體元件和電子設備(焊點),而無需拆卸設備。
    Nano-CT ®顯示CSP組件的焊接接點。焊接接點的3D形狀,約直徑400um,空隙間隙分佈清晰可見。焊接接點內部,不同的共晶焊料相是可見的。
    材料科學
    高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)用於檢測材料、複合材料、燒結材料和陶瓷,但也可應用於地質或生物樣品進行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀上是3D可視的。
    玻璃纖維複合材料的nano-CT ®:纖維氈(藍色)的纖維方向和基質樹脂(橙色)會清楚顯示出來。圖片右邊: 樹脂內的空洞會以暗體出現。左邊: 樹脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。氈內的單跟纖維是可見的。
    3D電腦斷層掃描
    工業X射線3D電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct) 的標準應用是對金屬和塑料鑄件的檢測及3D測量。phoenix| X射線的高分辨率X射線技術開闢了在眾多領域的新應用,如傳感器技術、電子、材料科學以及許多其他自然科學。
    SMD感應器的nanoCT®, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三維X射線圖像顯示了後蓋後的內部線圈。在任何常規的X光片中,圖層面板都是重疊的,但nanoCT ®成功地將對象逐層顯示。

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