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19.Dec.2022

X-ray螢光-XRF Hitachi EA1400有效控管無鹵素,讓客戶不再焦「氯」

文章-橫幅
 
Hitachi EA1400有效控管無鹵素,讓客戶不再焦「氯」
 
鹵素常用在阻燃劑、增塑劑、著色劑等,並添加在PCB、纜繩導線、電子零件、包裝材料等,但它在燃燒時會釋放腐蝕性氣體等,不止對人體健康有害,也會破壞臭氧層,因此才有限量使用鹵素的法規,稱為「無鹵規範(Halogen Free)」,廠商被要求限制產品中所含的聚氯乙烯 (PVC) 及溴系阻燃劑 (BFRs) 。目前主要參考國際電工委員會IEC 61249-2-21之法規限制,如下:
 
限用有害物質 每一均值材料限值
氯(Cl) <900ppm
溴(Br) <900ppm
氯+溴(CI+Br) <1,500ppm

如今,無鹵規範已經行之有年,與歐盟RoHS皆為廠商必遵守的法規,但無鹵素相較於RoHS的重金屬檢測,鹵素中的氯(Cl)屬於較輕元素,因此對於XRF螢光元素分析儀較難精確有效定量檢測,並極易受到大氣環境及樣品中不同成分元素背景干擾。為使氯(Cl)的檢測更精準可靠,日立Hitachi EA1400 XRF有以下特點著重應對:
 
  • 採業界最高感度的【串列式SDD檢測器】
高達150,000cps計數率,和上一代系列XRF相比,不止減少了元素之間的干擾,氯(CI)的檢測下限更是降低了6倍。
 
新一代EA1400 前一代EA1000AIII
Hitachi前後兩代設備分辨率比較表-1 Hitachi前後兩代設備分辨率比較表-2
▲EA1400波峰底部之間幾乎無重疊,更好判斷元素的存在;EA1000AIII波峰底部之間重疊較多,對元素間干擾影響較大。
 
氯(Cl)檢測下限
  前一代EA1000AIII 新一代EA1400
PE 33ppm 5.3ppm
PVC —— ——
▲相較於前一代設備,EA1400對氯(Cl)的檢測下限降低了6倍,來到了個位數。
 
  • DPD圖譜分離技術(Digital Peak Decomposition)
自動排除相鄰元素互相干擾波峰的情況,如PCB內常見的銠(Rh)、鈀(Pd)、銀(Ag)的能量位置就與氯(Cl)較為接近,可藉由此功能排除干擾並讓波峰獨立計算,大幅降低鄰間元素干擾,更有效精準控管微量分析。(注:DPD技術在RoHS及Halogen Free模式均適用)
 
無DPD技術 有DPD技術
能譜波峰說明-1 能譜波峰說明-2
能譜波峰說明-3 能譜波峰說明-4
▲DPD圖譜分離技術可協助使用者更好精確自動計算正確的元素成分,避免鄰間元素干擾。
 
  • 選配真空幫浦功能
將樣品室的空氣抽出後再進行檢測,可降低大氣中的氬氣(Ar)對氯(Cl)濃度的干擾。
(注:氯(Cl)元素的能量較低,檢測上容易因空氣的干擾而損失原有強度,且和氬氣分析線相鄰,波峰容易互相干擾及重疊,造成濃度跳動大或無法判斷的情況 ; 同時真空環境對於輕元素鎂(Mg), 鋁(Al), 矽(Si), 磷(P), 硫(S)有更好更優異的分析感度效果。)

同時,科邁斯的Hitachi EA XRF系列所服務之客戶,也可針對公司內部的個別需求進行調整,甚至少數客戶在意的硫(S)、錫(Sn)、銻(Sb)、磷(P)也可進行客制化建立檢量線,一機在手有害物質通通無所遁形。

 
EA1400
Hitachi XRF EA1400桌上型螢光分析儀
 

 

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