X-ray螢光-XRF Hitachi EA1400有效控管無鹵素，讓客戶不再焦「氯」

鹵素常用在阻燃劑、增塑劑、著色劑等，並添加在PCB、纜繩導線、電子零件、包裝材料等，但它在燃燒時會釋放腐蝕性氣體等，不止對人體健康有害，也會破壞臭氧層，因此才有限量使用鹵素的法規，稱為「無鹵規範（Halogen Free）」，廠商被要求限制產品中所含的聚氯乙烯 (PVC) 及溴系阻燃劑 (BFRs) 。目前主要參考國際電工委員會IEC 61249-2-21之法規限制，如下：

限用有害物質	每一均值材料限值
氯（Cl）	<900ppm
溴（Br）	<900ppm
氯+溴（CI+Br）	<1,500ppm

如今，無鹵規範已經行之有年，與歐盟RoHS皆為廠商必遵守的法規，但無鹵素相較於RoHS的重金屬檢測，鹵素中的氯(Cl)屬於較輕元素，因此對於XRF螢光元素分析儀較難精確有效定量檢測，並極易受到大氣環境及樣品中不同成分元素背景干擾。為使氯(Cl)的檢測更精準可靠，日立Hitachi EA1400 XRF有以下特點著重應對：

採業界最高感度的【串列式SDD檢測器】

高達150,000cps計數率，和上一代系列XRF相比，不止減少了元素之間的干擾，氯(CI)的檢測下限更是降低了6倍。

新一代EA1400	前一代EA1000AIII

▲EA1400波峰底部之間幾乎無重疊，更好判斷元素的存在；EA1000AIII波峰底部之間重疊較多，對元素間干擾影響較大。

氯(Cl)檢測下限
	前一代EA1000AIII	新一代EA1400
PE	33ppm	5.3ppm
PVC	——	——

▲相較於前一代設備，EA1400對氯(Cl)的檢測下限降低了6倍，來到了個位數。

DPD圖譜分離技術（Digital Peak Decomposition）

自動排除相鄰元素互相干擾波峰的情況，如PCB內常見的銠(Rh)、鈀(Pd)、銀(Ag)的能量位置就與氯(Cl)較為接近，可藉由此功能排除干擾並讓波峰獨立計算，大幅降低鄰間元素干擾，更有效精準控管微量分析。(注：DPD技術在RoHS及Halogen Free模式均適用)

無DPD技術	有DPD技術

▲DPD圖譜分離技術可協助使用者更好精確自動計算正確的元素成分，避免鄰間元素干擾。

選配真空幫浦功能

將樣品室的空氣抽出後再進行檢測，可降低大氣中的氬氣(Ar)對氯(Cl)濃度的干擾。
(注：氯(Cl)元素的能量較低，檢測上容易因空氣的干擾而損失原有強度，且和氬氣分析線相鄰，波峰容易互相干擾及重疊，造成濃度跳動大或無法判斷的情況 ; 同時真空環境對於輕元素鎂(Mg), 鋁(Al), 矽(Si), 磷(P), 硫(S)有更好更優異的分析感度效果。)

同時，科邁斯的Hitachi EA XRF系列所服務之客戶，也可針對公司內部的個別需求進行調整，甚至少數客戶在意的硫(S)、錫(Sn)、銻(Sb)、磷(P)也可進行客制化建立檢量線，一機在手有害物質通通無所遁形。