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桌上型螢光分析儀 XRF 產品型號：EA1000AIII

無需液態氮的X射線螢光分析儀，國內外最暢銷機種，市佔率最高的RoHS檢測設備。強化對於微小區域檢測的能力與感度，並可選配12件樣品自動測試轉盤。不僅可以檢測RoHS還可以分析無鹵素需求、膜厚分析、多元素成分分析...等各種不同元素分析應用領域。

#法規及規範　 #金屬分析/PMI　# 材料分析　 #元素成分分析　 #環境分析/EPA

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TECHMAX_CN_PRODUCTS_HITACHI_EA1000AIII_01

詳細說明規格說明產品應用

1.各大廠認可針對塑膠及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀
2.採用高靈敏度矽半導體偵測，無須液態氮
3.配備CCD監視器
4.具備形狀、厚度、材質補正技術(Hitachi專利)
5.材料判定功能
6.分析線自動切換判別功能
7.超低檢測下限的(Cd：1.9ppm；Pb： 0.9ppm)

項目	描述
測定元素	原子序編號 13 (Al) ~ 92 (U)
樣品形態	固體，粉末，液體
X光管	小型空冷式X射線管球(Rh靶)
	管電壓：15kV, 50kV
	管電流：1mA
檢測器	Si半導體檢測器 (無需液態氮)
準直器	1mm, 3mm, 5mm (自動切換)
樣品觀察	彩色CCD攝像頭
濾波器	5種模式自動切換 (含OFF濾波器)
樣品室	370(W) x 320(D) x 120(H)mm
X-ray Station	筆記電腦或桌上型電腦 (OS; MS-windows WIN7)
定性分析功能	能譜測定，自動辨別，KLM標記表示，圖譜比對，差異表示
定量分析功能	塊體基本參數法，塊體標準檢量線法
報告製作	MS-WORD，MS-EXCEL
設置尺寸	1500(W) x 1000(D) mm (不含印表機)
重量	約60kg
使用電源	AC100 ~ 240V，±10%，單相三線
選購配件	Film FP (薄膜FP軟體) Film CAL (薄膜標準曲線軟體) Spectrum Matching Software ( Material Discrimination) Hazardous Substance Measurement Software Ver.1 Sample changer (自動取樣器，最多可放12樣品) Standard Reference Samples for various environmental regulations

▶ RoHS/WEEE
(1) 滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
(2) 針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準，利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法，滿足廠商簡易的需求。

▶ 電子大廠重金屬規範
(1) Sony-GP(Green Partner) SS-00259有害物質認證
(2) Apple 069-0135禁用物質規範
(3) Samsung Eco-Partner認證
(4) 廣達、宏碁、HTC、華碩、台達、友達等國內大廠重金屬規範
(5) HP、Panasonic、molex、Toyota、Foxconn、3M等國際大廠重金屬規範

▶ 合金分析
(1) 金屬材料品質控管：合金中主成份的快速分析。
(2) 合金成份的鑒定：有效分辨材質相近合金種類，如：304/321
(3) 貴金屬的分析鑒定：貴金屬金、鈀、鉑、銀等含量分析
(4) 金屬回收與分類：依金屬成份含量做分類
(5) 回收汽車催化劑中，金、鉑、銠的成份分析

▶ 油品分析
(1) 燃料中的硫含量對環境的影響：XRF 為最有效檢測燃料中硫成份的工具(依據ASTM D4294)
(2) 監測潤滑油中重金屬的成分：精油油品中Fe, V, Cu, Cr, Ni, Pb 可以提早知道引擎中是否有不正常的金屬磨損(依據ASTM D6481)

▶ 鍍層厚度分析
(1) 分析電子部品電鍍層的厚度
(2) 各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
(3) 各鍍層的成分比例分析

▶ 空氣環境監測
在空氣過濾介質、灰塵抹布的含鉛方面符合NIOSH Method7702，OSHA Methods OSSAI，OSSI 。