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27.Jan.2022

新春首播 新型增強性能離子源(EPIS)及GC-MS/MS對食品中的農藥殘留進行高靈敏度分析

新型增強性能離子源(EPIS)及GC-MS/MS對食品中的農藥殘留進行高靈敏度分析

在使用 GC-MS/MS 系統分析食品中的農藥殘留時,有多種方法可用於實現高靈敏度。為了獲得更高的靈敏度,我們對 GC 和 MS進行了測試調查。

在GC方面,我們比較熱不分流進樣和冷不分流進樣的靈敏度,後者期許可以減少農藥本身在進樣口分解。在MS方面,將以新開發的增強性能離子源(Enhanced Performance Ion Source, EPIS)和傳統EI離子源之間的靈敏度比較。

本次研討會為線上活動,只要在線上報名取得連結後,使用個人電腦、手機、平板即可參加技術研討會,我們非常期待您的參與。
想了解更多食品中農藥殘留檢測應用實例嗎?快揪伙伴們一起報名吧!

參加研討會將可以獲得
  • 短碰撞池的特點及其在食品農藥殘留分析中的應用優勢。
  • 新開發的增強性能離子源 (EPIS) 的特點。
  • 如何提高農藥的檢出限。

適合參加對象 趕快報名、不要錯過
  • 分析食品中農藥殘留人員
  • GC-MS/MS 進行定量分析的人員
  • 對於熱不穩定化合物的測量技術感興趣的人

相關產品:
 氣相層析三段四極柱質譜儀GCMSMS

 

活動資訊
 
時間 2022/02/22(二) 15:00~16:00 (台灣時間)
報名方式 點我報名
報名截止 即日起至 2022/02/22(二)
聯絡電話 02-8990-1779 #5105 #5106 黃雅君 蘇慧玲 小姐
注意事項 會議全程將以「英文」進行
主辦單位 JEOL Ltd. 日本電子株式會社
協辦單位 科邁斯科技股份有限公司


 
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