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- 儀器介紹 -2013.05.02X-ray影像 實現自動分析的穿透式X-Ray影像檢測系統
之前我們提到有了關SMT以及IC在制程上常會遇見的問題，可以透過穿透式X-Ray影像檢測系統來進行分析，並瞭解內部的結構，這些都是直接透過圖片上的結構來判斷是否符合標準。
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- 儀器介紹 -2013.05.02X-ray螢光-XRF Olympus Innov-X掌上型XRF性能再提升
Olympus Innov-X 於今年初正式發佈將過往Delta Standard系列全面升級至Delta Professional，簡稱DPO系列; 同時將以往僅提供高階Delta Premium系列專屬銠(Rh)靶材，擴充於DPO系列也可作使用，成為同區位等級之中，掌上型XRF唯一可同時達到優異Mg~S輕元素分析及全方位RoHS重金屬檢測利器之一。
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- 儀器介紹 -2013.04.02質譜儀-Mass TG-MASS (熱重-質譜分析儀)分析技術
TG (TG-DTA, or TGA)熱重分析儀可測試樣品在不同溫度下揮發或斷鏈氣化的重量損失, 所以可以定量成分比例的訊息, 但對於是那一種物質的定性特性則無法得知. 此時需要借重其他定性設備的能力才能得知特定溫度裂解的物質結構. 例如藉由聯結Mass質譜儀的分子量測試得知物質種類TG-Mass (熱重-質譜儀) 或是利用FTIR 測試特定物質裂解後的官能基, 達到確定物質種類的方法, 所以亦利用TG-FTIR (熱重-傅立葉紅外線光譜儀), 這些技術都是利用不同儀器特性串聯同時達到定性與定量.
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- 儀器介紹 -2013.03.27X-ray螢光-XRF 環境檢測新紀元掌上型XRF 50kV實測大躍進
臺灣在天生地質條件，常造成土壤中重金屬砷、鉻、鎳等元素自然背景值偏高; 而土壤污染頻頻暴露以及工廠排放污染，也導致管制上最為不易的重金屬鎘(Cd)污染日趨加劇，因此，現地快篩並兼具快速分析能力之精密儀器性能要求日趨重要，而同時，臺灣採用掌上型XRF進行現地快篩或實驗室分析相關應用也於環境業界日趨增加。
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- 儀器介紹 -2013.03.27X-ray螢光-XRF 掌上型XRF Delta系列Trending功能正式推出
Delta掌上型螢光分析儀在目前最新軟體版本2.5.17或之後更新的版本中增加了一個新的功能，那就是Trending(趨勢分析圖)。此功能可以幫助使用者在多個樣品測樣時，可以針對單一元素的分析準確度進行確認。
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- 儀器介紹 -2013.01.01RoHS 2.0 《RoHS 2.0》歐盟正式上路，您不可不知的重要內容!
RoHS新版指令2011/65/EU (簡稱RoHS (recast)或RoHS 2.0)即將於2013年1月2日起在歐盟成員國正式執行。而中國、日本、韓國、臺灣、印度及美國加州等各地皆須隨其腳步跟進。
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- 儀器介紹 -2012.12.26X-ray螢光-XRF 油品中金屬含量檢測利器-非破壞性元素分析儀
工業社會最重要的動力來源-引擎，尤其是柴油引擎更是最主要的生產運轉機具之一。無論是路上運輸、海上船舶、建築營造與發電設備都與引擎動力緊密相關。而機油或潤滑油品對於引擎來說除了是不可或缺的必要需求，也是運轉效能和判斷磨損消耗的重要依據。
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- 儀器介紹 -2012.12.25RoHS 2.0 日本精工SII RoHS+Sb(銻)標片
現在每天翻開報紙或是打開路口網站的首頁,看到的不外乎是三星(Samsung)、蘋果(Apple)或是宏達電(HTC) 。其實在他們能做到那麼強大，當然是有一定的自我規範！早期一般電子廠或是代工廠都一定會跟著歐盟的RoHS法規，檢測鎘(Cd)、鉛(Pb)、汞(Hg)、多溴聯苯(PBBs)、多溴聯苯醚(PBDEs)和六價鉻(Cr6+) 。而目前歐盟也推出了新的RoHS 2.0法規。在綠色環保的規範裡，也逐漸的要求更加多的設備需要能夠符合此規範。
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- 儀器介紹 -2012.08.17X-ray影像 PST - Windows 8 觸控面板最佳測試利器
簡介：根據NPD DisplaySearch發佈的觸控面板市場與技術分析報告(Touch Panel Market Analysis)中特別指出，Windows 8對於觸控功能的強化，將為平板電腦與筆記型電腦的觸控需求帶來革命性的變化。觸控面板模組在筆記型電腦與平板電腦上的產值將由2011年的29億美元大幅成長至2015年的57億美元。 (資料提供：電子工程專輯)
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- 儀器介紹 -2012.07.27X-ray螢光-XRF XRF與ICP-OES測試比較-以Ni-P鍍層中Pb含量為例
在檢測RoHS的法令中鉛的限制濃度是1000ppm，這種檢測方式在均質材料是沒有問題的，但當需要檢測到電鍍層中的鉛含量時，一般的XRF會因為鍍層以及基底的差異，會造成濃度被稀釋的狀況，而日本精工SEA系列的XRF可以做RoHS的檢測外還可以針對膜厚進行分析，透過檢量線法最多可以分析5層的差異，除了可以分辨鍍層厚度還可以量測出鍍層的元素含量，這些都是因為SEA1200VX搭載了SDD Vortex的檢測器，可以檢測微量的強度並有效地分析。
