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13.Sep.2021

X ray螢光-XRF 線上型XRF分析儀Vanta iX重磅問世

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Olympus於2021重磅推出線上型XRF分析儀Vanta iX (On-Line XRF),進一步更新線上型XRF熱門機款FOX-IQ。適用於金屬成分、牌號分析(PMI)、礦物檢測(GEO)、貴金屬分析、鍍層膜厚檢測(Coating),全自動、連續性的線上XRF (On-Line XRF)管控監測。

 
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圖一. 線上型XRF Vanta IX應用類別及特點

Olympus線上型XRF Vanta iX針對金屬合金與牌號全檢分析,可以連續7天24小時不間斷於生產過程中分析,百分百(100%)驗證各個合金的濃度,以及金屬牌號是否正確,藉此判斷生產過程材料誤用的狀況。此外設備可從鎂(Mg)到鈾(U)中任何元素進行在線元素分析(In-Line XRF),對於貴金屬中金(Au)、銀(Ag)、白金(Pt)、鈀(Pd)、銠(Rh)、銥(Ir)、釕(Ru)、鋨(Os) 之八大貴金屬元素,以及材料鍍層中,各別鍍層元素的厚度為何,皆可透過儀器數據記錄和警示功能,快速提供精確的元素辨別信息、監控,以及化學成份。
 
設備尺寸(W × H × D) 10 cm × 7.9 cm × 26.6 cm
規格監控元素範圍 鎂(Mg) - 鈾(U)
光管靶材 銠(Rh), 鎢(W)
檢測器 SDD矽漂移檢測器
濾波器 八種自動切換
設備重量 2.4Kg
設備電壓 (功率) 8–50 keV (4W max)
環境溫度 –10 °C - 50 °C
環境濕度 10% - 90%
防塵防水(IP)認證 IP54
軍規防摔認證 MIL-STD-810G
作業系統 Linux

 

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