X-ray螢光-XRF XRF分析新技術！步入SPC品管優化整合軟體

XRF是一種普及的多方位元素分析儀，不僅可以快速分析材料成分，並且可以透過合適的參考標準濃度，進行有效的濃度監控。因此早期XRF，最優先利用於檢測電子產品，對全面性RoHS包含禁鉛、禁鹵素等制程管控，派上了對於環保極大化的幫助，並且成為目前每家大廠或供應商，必要的品保檢測趨勢，必須遵守規範要求才能將產品行銷全球市場，而SPC（統計制程管制（Statistical Process Control）則是在檢測後進行資料庫管理的一種協助。

傳統的XRF，僅能做到一筆一筆的單純檢測，但是，卻無法有效善用測試後紀錄，優化整合所有進行過得歷史分析，進行分析性的品質管制。
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有鑑於此，新一代的XRF，已率先併入資料庫優化搜尋系統，並可以利用同一系統，進行類似SPC（統計制程管制（Statistical Process Control）品質即時追溯分析，隨時監控出貨(OQC)或進料(IQC) 的全面性管理。

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如上圖，我們常常在測試『同一批號物料』時，無法得知同一供應商的進料品質和穩定性，有可能此物料逐月濃度遞增，有可能此物料每月進料濃度參差不齊，濃度變異太大，對於品質檢測部門，有一定的程度風險，甚至隨時產生重金屬管制物質的超標可能。對於一級大廠客戶，優先擁有一套良好的追溯系統，不但可有效預防進料的變化或異物添加，更有助於防範各種問題。這樣的檢測技術，目前已整合於新的XRF系統中！

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新型XRF已把分析階段和監控階段整合為一，建購在同一操控系統下，使用者或管理者可於測試過程中，利用歷史分佈點的情形，判斷進料的趨勢濃度是否失控，一旦發現失控立即做改善，並且可後制針對有問題測試結果，做各種條件組合篩選，進行歷史原因的搜尋和問題解決。統計制程管控是預防性和分析性的品質管制手法，它比事後的檢驗更能提升產品品質，相對於品保控管更能減少時間和人力的無形成本！

**名詞說明：SPC統計制程管制（Statistical Process Control）意即利用統計分析的方法，對生產過程做即時的監控，使制程穩定和降低變異來改善制程能力。

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