X-ray螢光-XRF Hitachi XRF高效分析沸石成分，掌握Si/Al比與Na含量關鍵

Hitachi EA1400 XRF高效分析沸石成分，掌握Si/Al比與Na含量關鍵
沸石（Zeolite）作為一種矽鋁酸鹽礦物，其元素分析需求在工業應用中日益重要。沸石廣泛應用於催化劑、吸附材料、水處理與建材等領域，其核心組成以 SiO₂ 與 Al₂O₃ 架構為主，並含鈉（Na）成分，這些元素比例直接影響其應用性能。不同沸石樣品間的 SiO₂/Al₂O₃ 比值可能有所差異，常見範圍為 3.24～4.94。透過先進的XRF螢光元素分析技術，特別是Hitachi XRF 系列中 EA1400 分析儀，可高效完成對沸石中 Si、Al 與 Na 等關鍵元素的快速定量偵測，精準掌握其 Si/Al 比與 Na 含量。這類元素分析解決方案不僅提升了催化效率與吸附活性，更有助於強化沸石產品的品質控管與應用穩定性。

XRF螢光元素分析儀是一種非破壞性的元素分析技術。當樣品被高能 X 射線照射時，其所含元素將釋放特徵螢光 X 射線，強度與元素含量呈正相關。

沸石 Hitachi EA1400 XRF 螢光能量分析儀分析重點解析
Si/Al 比值	決定沸石分類與功能（吸附 vs. 催化）性能低比值 < 4：為吸附用高比值 > 4：為催化用
鈉 (Na) 含量	純度與活性重要參數，對光譜中 Na Kα 線進行偵測與校正
準確度與穩定性	根據 EA1400 XRF 實驗顯示： RSD < 2% 準確度 ±5% 適合準確控管矽 (Si)、鋁 (Al)、鈉 (Na) 關鍵元素

採用EA1400能量分散式 XRF（EDXRF），量測參數條件如下：

參數	建議條件
電壓 / 電流	15 kV / 適當電流（針對 Na、Si、Al 設定）
樣品備置	粉末狀態置入 XRF 樣品杯中，如需可加入預壓或擠片處理
測量時間	30 s – 100 s / 點（依元素濃度與檢出限設定）
大氣環境	真空（需檢測鈉 Na，真空可降低背景干擾）
量測方法	FP（基參數法），搭配使用已知濃度標準品建立標準校正曲線
量測次數	每個點進行五重複分析