• 品質因細節而決定

X射線螢光鍍層厚度測量儀 產品型號:X-Strata920-PC, X-Strata920-SDD

最高精確度,最少浪費-XRF的鍍層測厚儀。
#膜厚分析   #金屬分析
TECHMAX_CN_PRODUCTS_HITACHI_X-Strata-920_01
  • 基於X螢光的塗層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易於使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本製備,能夠分析元素週期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。 X-Strata 920提供多種配置,可分析單層和多層鍍層(包括合金層)。四種樣品台配置,分別是標準台、井深式、加寬式、程式控制式,可依照需求分析任何形狀的部件樣品。
     
    1. 開槽式樣品倉設計,可以測量大型平板樣品,如尺寸大於儀器  寬度的印製線路板或小型的連接器,接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點
    2. 最大樣品尺寸:270 x 500 x 150mm
    3. 最小的准直器:0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
    4. 可根據需求選擇檢測器-正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾)SDD
    5. 可以分析金屬膜厚及成分, 從原子序號22~至92的典型元素的電鍍層、化學鍍層
    6. 多層多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
    7. Z 軸自動控制, Z 軸自動對焦系統
    8. 鈷二次濾光片,用於準確校正銅鎳之間的相互干擾,合適鎳層的精確測量
    9. 最大數量准直器:6個
    10. 金屬薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米,根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同
    11. Hitachi SmartLink FP 基本參數法
  • 項目 描述
    測量方向
    (X射線照射方向)
    從上往下,即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦
    外形尺寸 寬 x 深 x 高 [mm]: 約 407 x 770 x 400 mm
    樣品台設計 開槽式樣品倉,可以測量大型平板樣品,如尺寸大於儀器  寬度的印製線路板或小型的連接器,接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點。 Z 軸自動控制(Z 向行程:43mm)
    樣品倉內部尺寸:236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高)
    X射線源 W 靶射線管
    高壓發生器 50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發生器,高壓多檔可調
    二次濾光片 鈷二次濾光片,用於準確校正銅鎳之間的相互干擾,合適鎳層的精確測量。
    X射線接收器檢(探測器) 正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD
    元素範圍 鈦-鈾,或鋁-鈾(SDD)
    視頻系統 彩色 CCD,30 倍光學放大, 200%、300%和 400%數位放大。樣品分析區域
    在使用者介面顯示,清晰、易用。
    Z 軸自動對焦系統 鐳射用於 Z 軸自動精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到最佳測試距離。
    「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動到最佳位置,同時將樣品圖像定焦(顯示在螢幕上)。
    自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性,並將人為測量誤差降到最低。
    注:最佳測試距離為 12.7mm,由 X 射線測試頭自動調節高度(Z 軸)。
    可測量的鍍層
    元素範圍
    元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素
    可測量的鍍層層數 最多可同時測量 4 層(不含基材)
    可測鍍層厚度範圍 通常約 0.03 微米到 30 微米,根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同。

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