• 應用因技術而專精

桌上型X射線螢光分析儀 產品型號:EA6000VX

#法規及規範 #金屬分析/PMI # 表面分析 #元素成分分析
 
  • ▶ RoHS/WEEE
    (1)滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析,例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
    (2)針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準,利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法,滿足廠商簡易的需求。

    ▶ 合金分析
    (1)金屬材料品質控管 :合金中主成份的快速分析
    (2)合金成份的鑒定 : 有效分辨材質相近合金種類,如:304/321。
    (3)貴金屬的分析鑒定 : 貴金屬金、鈀、鉑、銀等含量分析。
    (4)金屬回收與分類 : 依金屬成份含量做分類
    (5)回收汽車催化劑中,金、鉑、銠的成份分析

    ▶ 鍍層厚度分析
    (1)分析電子部品電鍍層的厚度
    (2)各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
    (3)各鍍層的成分比例分析

    ▶ 映圖掃描分析(Mapping)
    (1)可進行PCB外掛程式之後的直接分析,不需要拆解,100mmX100mm尺寸大小只要30分鐘即可完成各項元素成份分佈情況。
    (2)直接分析各種組成元素的分部位置及濃度分佈
    (3)結合樣品影像及元素分佈,標定元素位置。

    ▶ 太陽能應用
    (1)CGIS太陽能厚度分佈檢測
    (2)多點位置成份材質鑒定

    ▶ 無鹵素應用
    (1)針對IEC指令中之無鹵素含量要求標準,利用XRF建立快速、非破壞的檢測方法,滿足客戶簡易的需求。
    (2)快速分析無鹵素成分分析
    (3)無鹵成分分佈,或多點材料同時檢測。
     
  • 項目 描述 內容
    X射線發生部 照射方式
    電壓
    電流
    准直器
    上部垂直照射方式
    最大50kV,多段電壓切換
    4-1000μA,可做自動調整設定
    4個,Φ0.2mm、Φ0.5mm、Φ1.2mm、Φ3mm (自動切換)
    檢測器 形式
    冷卻方式
    Vortex矽半導體多陰極偵測器
    電子冷卻(不需要液態氮,也非冷凍機冷卻)
    一次濾波器 五種濾波器,6種模式可自動切換
    樣品觀察 CCD監視器
    觀察倍率
    照明

    同軸觀察系
     
    廣域觀察系
    高解析度CCD彩色鏡頭 雙系統
    多倍數自動切換
    LED燈,無影燈設計影像無陰影
    視野:6×4mm
    解析度:20um
    WD:5mm、15mm、25mm電動
    視野:250×200mm
    解析度:20um以下
    自動桌面功能  指定測量位置
    設定測量位置
    確認測量位置
    再測量功能
    在畫面上利用滑鼠完成X-Y-Z的座標輸入
    原點的座標和畫像保存以及位置偏差角度的修正
    圖表表示測量位置
    通過和測量位置的連動,可以進行再測量
    樣品台 250(W)x200(D)mm
    移動量 最大580(W)x450(D)x150(H)mm
    最大樣品厚度 150mm
    載重量 5kg
    電源容量,接地 AC 100V±10% 15A 2系統 第3種接地
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