• 應用因技術而專精

桌上型X射線螢光分析儀 產品型號:EA1000AIII

#法規及規範 #金屬分析/PMI # 材料分析 #元素成分分析 #環境分析/EPA
  • 1.各大廠認可針對塑膠及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀
    2.採用高靈敏度矽半導體偵測,無須液態氮
    3.配備CCD監視器
    4.具備形狀、厚度、材質補正技術(Hitachi專利)
    5.材料判定功能
    6.分析線自動切換判別功能
    7.超低檢測下限的(Cd:1.9ppm;Pb: 0.9ppm)
  • 項目 描述
    測定元素 原子序編號 13 (Al) ~ 92 (U)
    樣品形態 0.005 W/mK~1800W/mK
    X光管 小型空冷式X射線管球(Rh靶)
    管電壓:15kV, 50kV
    管電流:1mA
    檢測器 Si半導體檢測器(無需液態氮)
    准直器 1mm, 3mm, 5mm (自動切換)
    樣品觀察 彩色CCD攝像頭
    濾波器 5種模式自動切換( 含OFF 濾波器)
    樣品室 370(W)*320(D)*120(H)mm
    X-ray
    Station
    筆記電腦或桌上型電腦
    (OS; MS-windows WIN7)
    定性分析功能 能譜測定,自動辨別,KLM標記表示,圖譜比對,差異表示
    定量分析功能 塊體基本參數法,塊體標準檢量線法
    報告製作 MS-WORD,MS-EXCEL
    設置尺寸 1500(W)*1000(D) mm
    (不含印表機)
    重量 約60kg
    使用電源 AC100 ~ 240V , ±10%, 單相三線
    選購配件
    • Film FP (薄膜FP軟體)
    • Film CAL (薄膜標準曲線軟體)
    • Spectrum Matching Software ( Material Discrimination)
    • Hazardous Substance Measurement Software Ver.1
    • Sample changer (自動取樣器,最多可放12樣品)
    • Standard Reference Samples for various environmental regulations
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