• 應用因技術而專精

氣相層析質譜儀 GC-MS 產品型號:JMS-Q1500 GC-MS

氣相層析分離技術,樣品經GC分離各個成分後,由質譜儀(MS)偵測,得到各個成分的化學結構。GC/MS常被使用在石化、農業、食品、材料研發和鑑定,是一種強大的分析工具,對於複雜樣品可以進行確切的成分分析。樣品前處理步驟最令人費神的,由於JMS-Q1500GC優異的四極柱分析器和強大真空能力,在與其他樣品前處理分析儀器串聯時(如:熱分析、頂空進樣),表現出十分良好的相容性和靈敏度。

#環境分析/EPA #材料分析
  • ■ 產品說明
    日本電子JEOL在四極杆的技術發展上更上層樓,使得新一代的GC-MS具有更出色的性能。JMS-Q1500可應用在廣泛的領域,如環境分析、藥物檢驗、食品分析、農藥分析、氣體分析、材料研發及塑化劑分析等。為了增加應用領域的範圍(固體進樣、特殊樣品及氣體進樣等),除了傳統的GC進樣方式外可串聯多種進樣儀器。

    ■ 特色說明
    1. 寬廣的動態範圍及強大的真空能力
    JMS-Q1500GC之中的四極柱空間在同類型儀器中擁有最大的體積。採用大型雙曲線四極柱,能夠提高離子進入的通量及離子的使用率,可進行大量的化合物分析及擁有寬廣的動態掃瞄範圍。由於具有極佳的離子的傳輸效率,在進行微量分析時也能具有很高的靈敏度。
     

    JMS-Q1500_02

    2. 高容量的渦輪真空幫浦(Turbo Molecular Pump)
    抽氣速率高達400 L/sec,可在5分鐘內達到高真空環境,應用在高流速管柱(如packed column或mega bore column)依然能夠保持良好的真空度。

     

    JMS-Q1500_03

    3. 高靈敏度及快速的資料獲取 (Improve detection sensitivity and data acquisition)
    根據JEOL的引入式透鏡(Draw-in lens)及預過濾系統(pre-filter),可將雜訊降到最低、增加靈敏度及延長四極柱的壽命。在Scan模式下,1 pg的OFN的靈敏度可以達到S/N≧ 1,000(為JEOL QMS系統中靈敏度最高的),在SIM模式下,儀器偵測極限(Instrument detection limit, IDL)可達到10 fg或更低。更高性能的APU提高了資料獲取的效率,在Scan模式下採集速度可達到22,222 u/sec。

     

    JMS-Q1500_04
     

    Injection (#) RT.(min) Area CV% IDL
    1 5.57 3065    
    2 5.57 2902    
    3 5.57 2981    
    4 5.57 2955    
    5 5.57 3028    
    6 5.57 3024    
    7 5.57 2987    
    8 5.57 3053 1.8% 6.3fg

     

    4. 100 fg的OFN在SIM模式下,進行8次重複性實驗所計算出的值(m/z 272)
    同時監測多組SIM且保持高靈敏度 (Peak Dependent SIM, pd-SIM)新的”pd-SIM”功能能夠提高分析時的靈敏度,在任何情況下皆可輕鬆達到最佳SIM條件並進行實驗。每1組的SIM可以設定100個通道(最高可達300組),以及每個通道的採集速度可根據需求設定5 ms或更短。

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    JMS-Q1500_05

     

     

    5. 簡易的維護步驟及更低的維護成本
    JMS-Q1500採用更寬廣的一體式離子源,減少了拆卸的複雜度,不需任何工具就可拆卸,能夠以更輕鬆簡單的方式進行離子源的維護或清潔、更換分析管柱使得維護成本下降。

    JMS-Q1500_07
     

    6. 簡易的分析軟體 (Analysis Software “Escrime”)
    ”Escrime”是一款全面性的分析軟體,可以輕鬆且有效的進行GC-MS資料的定性及定量功能。于定性時,所有的峰皆可以有效地進行分析,包含了峰清單(peak list)、資料庫搜尋及圖譜的比較等。定量部分可以進行自動峰面積積分、檢量線建制、濃度計算及對單一或多峰面積進行修正等定量分析結果的報告,也可根據客戶需求進行更改。

    JMS-Q1500_08

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    ■ 選配配件/其他

    光游離化離子源
    (Photoionization, PI)
    PI為軟性游離源,利用氘燈光源提供能量為10.3 eV的紫外光,將化合物離子化得到分子離子,結合傳統的EI及PI,可得到更完整的分子量及結構資訊,提高分析效率,對於未知物的鑒定是一大利器。 JMS-Q1500_10


    ■ 串聯多種進樣系統

    熱重質譜儀系統
    (TG-MS)
    TG/DTA是將樣品加熱並同時監測重量損失與能量變化的熱分析技術,為瞭解熱脫附的物質,將其與質譜儀串聯可對升溫過程中所產生的氣體進行定性分析,能夠一次瞭解材料在加溫過程中的變化,應用於材料分析及有機合成等。 JMS-Q1500_11
    熱裂解GC-MS系統
    (Py-GC-MS)
    將熱裂解儀(Pyrolyzer)與GC-MS結合的分析技術,可藉由熱裂解儀裂解有機化合物經由GC-MS進行分離及檢測,應用於材料分析、橡膠分析及塑化劑等。 PY-GCMS_JEOL
    頂空進樣GC-MS系統
    (HS-GC-MS)
    頂空進樣系統(Head Space System)為一種預處理儀器,用於分析固體和液體所產生的揮發性有機物(VOC)。日本電子JEOL所開發的HS除了有傳統回路(Loop)式進樣,還具有補集管(Trap)式進樣,能夠進行極低濃度的分析,如水中黴味的最低偵測極限可達1 ppt。應用於揮發性有機物檢測、食品、化妝品及異味分析等。 JMS-Q1500_13
    直接進樣系統
    (Direct Insertion Probe, DIP/DEP)
    JMS-Q1500GC系統還可選擇兩種探針以直接進樣方式分析,根據不同的樣品型態及需求去做選擇。 JMS-Q1500_15
    直接插入式探針
    (Direct Insertion Probe, DIP)
    將固體或液體樣品放入窄玻璃管中,再經由探針直接加熱樣品而直接離子化,應用于高沸點化合物的分析。 JMS-Q1500_16
    直接暴露式探針
    (Direct Exposure Probe, DEP)
    將液體樣品放置在探針的Pt金屬絲上,再經由探針施加電流直接將分子離子化,應用于高沸點及熱不穩定性化合物的分析。

     

  • 品質掃描範圍 m/z 1.5-1022
    離子源
    • Electron Ionization (EI)
    • Photo Ionization (PI)
    • Chemical ionization (CI)
    品質分析器 High-precision hyperbolic quadrupole w/ Pre-filter (QMS)
    偵測器 Secondary-electron multiplier w/ Conversion dynode
    真空系統
    • Turbo molecular pump
    • Rotary pump
    真空進樣系統
    • Direct Insert probe (DIP)
    • Direct Exposure Probe (DEP)
    串聯式進樣系統
    • TG/DTA
    • Pyrolyzer
    • Head Space
    • Sniff
     

    ■ 委測檢驗

      應用領域 樣品形態
    GC-MS 電池氣體、逸散氣體、塑化劑、有機化合物定性及定量、添加劑
    氣體
    液體
    TG-MS 原料或材料定性、即時逸散氣體監測 氣體
    固體
    Py-GC-MS 原料或材料、添加劑、高分子材料、塑化劑 氣體
    固體

     

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