• 活動因知識而交流
舉辦日期:[2024.08.07]

實體講座 非破壞檢測技術中的精密檢測、失效分析與AI自動化:應用於電子零組件與各類材料中

報名人數:( / 100 )
20240807 Seminar

非破壞檢測技術中的精密檢測、失效分析與AI自動化:應用於電子零組件與各類材料中
 
隨著AI的使用越來越多元且廣泛,在AI的普及下製造業會利用AI的來實現一些過去必須透過人員來判斷的問題,當AI取代人工判讀自動化的應用自然也需要去強化與搭配,科邁斯過去一向專注於實驗室方面的檢測系統,但我們也將在這波浪潮下進行產業升級,本次研討會除了原本的失效分析應用,更會加強設備與自動化以及自動判讀上的連結。

非破壞檢測一直以來都是分析手法中相當被重視的一環,主要是在不破壞樣品結構下可以對產品獲取一定的訊息量,從而可以利用這些訊息對產品做再進一步的分析與判斷,在失效分析中這部分想當重要,因為失效分析開始需要透過一些儀器來把疑問範圍縮小,所以非破壞檢測相當的重要,科邁斯提供了不同類型的檢測手法,有效的幫助大家找出問題所在。

此次會議也邀請了日本HIROX首席應用技術人員來台分享相關的光學檢測技術,HIROX是生產全世界第一台數位顯微鏡的廠商,HIROX顯微鏡也具備了3D的功能。本次的研討會將會以穿透式X-ray、螢光分析XRF、光學顯微鏡以及色彩管理為主題,從微觀到宏觀,從元素到結構,最後連外觀尺寸與顏色,都可以透過非破壞檢測科技來完整呈現。
 
 
活動資訊
 
活動時間 2024年08月07日(三) 9:30~16:00
活動地點 台大集思會議中心 - 蘇格拉底廳
(台北市大安區羅斯福路四段85號B1)
報名費用 本次研討會為免費實體講座,並提供餐飲!
報名截止 即日起至2024/08/06或額滿為止
聯絡電話 02-8990-1779 #5101 鍾雅茹小姐 #5105 黃雅君小姐

活動時間表
 
時間 內容
09:30-10:00 報到
10:00-10:10 開場
10:10-10:50 科技透視:3D Xray CT的正確使用與應用解析
  • 你真的瞭解3D Xray CT嗎?硬體架構的討論
  • X射線影像品質探討
  • 3D Xray各種不同的掃描方式
  • 電子零件、複合材料與金屬機構 應用分享
  • Xray自動化檢測技術分享
10:50-11:10 休息
11:10-12:10 Hirox Digital Microscope Application Introduction
  • An unique approach to accurate observation of various material
12:10-13:10 午餐
13:10-13:50 手持式暨線上型XRF應用於金屬材及塑料材之案例分享
  • 輕元素如矽Si、磷P、硫S對於金屬材質的重要性
  • 再生塑膠(PCR Plastic)對電子產業的影響性
  • 透過線上型XRF提升品檢能力減少人力的關聯性
13:50-14:10 休息
14:10-14:50 Hitachi桌上型XRF材料失效分析與電子元件監控之多元分享
  • 2024電子大廠最新XRF管控分享與失效應用分析一次掌握
  • 電鍍材料「膜厚」監控分析,讓您一機兩用
  • 材料表面異物污染及貴金屬材分析案例分享
  • 電子元件中特殊元素之客製化檢量線精確監控應用分享
14:50-15:20 休息
15:20-16:00 如何提升產品顏色一致性? 減少顏色失效的關鍵技巧!
  • 顏色測試與校準的重要性
  • 標準化顏色配方與混合過程
  • 顏色線上自動化品質控制
 



(※線上直播活動將不提供餐飲, 請忽略此欄位)



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