產品諮詢
活動報名
填寫需求
科邁斯集團｜TechMax Technical Group
關於科邁斯
企業簡介
大事記要
經營團隊
集團事業
顧問服務
服務支持
產業信息
商品
法規
技術
服務
影音專區
研討會/教育訓練
活動
所有信息
產品介紹
數位顯微鏡 Digital Microscopy
色差儀 Spectrophotometer
洩漏測試儀 Leaking test
X射線螢光分析儀 XRF
X射線穿透影像系統 X-ray
分光光譜儀 QED
熱分析儀 TA
熱傳導儀 Hot Disk
熱傳導儀 Thermtest
質譜儀 MS
核磁共振儀 NMR
電子自旋共振儀 ESR
鍍層膜厚儀 Thickness
能源天然氣類
雷射剝離 Laser Ablation
X射線繞射分析儀 XRD
所有產品
產業知識庫
技術原理
技術應用
相關法規
技術訊息
儀器介紹
所有信息
應用專區
顏色及色差 Color
洩漏測試 Leaking test
金屬分析Metal
法規 Restriction
材料分析 Material
非破壞性穿透影像檢測分析 X-RAY
元素分析 Element
環境分析/EPA
膜厚 Thickness
熱傳導 Thermal Conductivity
服務支持
檔案下載
聯繫我們
活動報名
简体中文
繁體中文
ENGLISH
產業信息
產業知識庫
送出
送出
活動報名
Activities
即將額滿
已結束活動
所有訊息
首頁
>
活動報名
>
回上頁
舉辦日期：
[2020.07.08]
Hot Disk- Transient Plane Source (TPS) Thermal Conductivity method and application web seminar | TechMax Group
報名人數:(
已額滿!
/ 100 )
COPYRIGHT © TECHMAX TECHNICAL CO.,LTD All Rights Reserved |
Design By iBest
简体中文
繁體中文
ENGLISH
產業信息
送出
產業知識庫
送出
About
關於科邁斯
企業簡介
大事記要
經營團隊
集團事業
顧問服務
服務支持
News
產業訊息
商品
法規
技術
服務
活動
所有資訊
Products
產品介紹
X射線螢光元素分析儀
穿透式X-ray影像系統
熱分析儀
熱傳導係數儀
氣相層析質譜儀
核磁共振儀
電子自旋共振儀
X射線繞射分析儀
鍍層膜厚儀
所有產品
Knowledge
產業知識庫
技術原理
技術應用
相關法規
技術訊息
儀器介紹
所有資訊
Application
應用專區
金屬分析 Metal
法規 Restriction
材料分析 Material
非破壞性穿透影像檢測分析 X-RAY
元素分析 Element
環境分析/EPA
膜厚 Thickness
熱傳導 Thermal Conductivity
Support
服務支持
聯絡我們
產品諮詢
訂閱電子報
Activites
活動報名
熱烈報名中
即將額滿
已結束活動
所有訊息
Information
相關資訊
使用條款
隱私聲明
菁英募集
简体中文
繁體中文
ENGLISH
CONTACT
產業信息
送出
產業知識庫
送出
MENU
數字驗證
請由小到大，依序點擊數字
換一組數字
