JMS-T200GC, GC-TOF

氣相層析飛行時間質譜儀
(AccuTOF™ GCx-plus)

熱門應用領域:
有機合成 高分子合成
  • 簡述

JMS-T200GC為GC-TOF (AccuTOF GCx)系列種中最新及最先進的質譜系統,AccuTOF GCx-plus的應用範圍相當廣泛且功能強大,為日本電子JEOL在GC-TOF中具有高性能以及能夠結合多項分析技術的高解析度氣相層析質譜儀。

  • 優越的性能

AccTOF GCx-plus能維持高穩定度、高靈敏度、高解析度並長時間進行精確質量分析,另外作為高解析度質譜TOFMS具有最大的動態範圍,在一張圖譜中的微小peak皆能夠準確的進行分子離子及碎片離子之分析,基於寬廣的動態範圍能夠容易的進行不同濃度混合樣品的分析。

高解析度(High resolution)

 

高質量準確度 不同濃度的混合樣品 (High mass accuracy)

 

高質量準確度 寬廣的質量範圍 (High mass accuracy)

 

高穩定度的精確質量測試 (Stable mass accuracy over time)

 

 

高靈敏度(High sensitivity)

 

CV: Coefficient of variation,IDL: Instrument detection limit

 

  • 離子源及離子源傳輸系統

離子傳輸系統不僅具有穩定的高透射率(高靈敏度),還能成功的排除99.9%以上的載流氣體(He),使樣品的離子傳輸效率最大化以提升靈敏度,也能夠使偵測器的壽命更長。

 

真空隔離閥 (Vacuum isolation valve)為日本電子JEOL專利及開發的,在維護、保養或更換不同離子源時,在有真空隔離閥區隔離子源以及質量分析器的情況下,無須卸除質量分析器的真空,可減少等待時間,在材料的開發及應用上須經常更換離子源,因此具有真空隔離閥能夠大大減少時間及人力成本。

 

  • 質量分析器

AccuTOF GCx-plus之質量分析器為反射式飛行管,兩次的空間聚焦(spatial convergence)及一次的反射(energy convergence),提高圖譜的解析度,以及使用垂直加速飛行時間質譜儀(Orthogonal Accelerating Type Time-of-Flight Mass Spectrometer, oa-TOFMS),提高離子的使用率。

 

 

  • 高速的數據處理50 spectra/sec

高解析度和高質量準確度,能夠可靠的推測元素組成,是個有利的工具在未知化合物和干擾物定性分析。AccuTOF GCx-plus具有非常快速的數據採集(50 spectra/sec),因此利於進行高通量分析Fast GC,以及二維氣相層析技術(GCxGC)。

 

 

  • 寬廣的質量範圍

AccuTOF GCx-plus具有寬廣的質量範圍和直接進樣系統,可以分析GC難以處理的大分子量樣品(低聚物的測試)。

 

 

選配件/其他

電子游離法(EI)在未知物的定性分析中為最普遍有效之方法,可以得到化合物的結構訊息,搭配軟性游離法得到精確分子量,結合兩種游離法得到的資訊便可以更準確的鑑定化合物,AccuTOF GCx-plus除了有一般常見的電子游離法(EI)及化學游離法(CI)之外,還可搭配其他較特殊的軟性游離法,如場游離法(FI)、場脫附法(FD)及光游離法(PI)等,對於分析樣品的定性結構的分析是一大利器。

 

 

  • 場游離法(Field Ionization, FI)、場脫附法(Field Desorption, FD)

FI及FD離子化方法與EI或CI相比,屬於分子離子內部的能量較小的離子化方式,更不容易產生離子碎片,選擇性也相對較低,因此最適合用於確認未知物分子量。

場游離法(Field Ionization, FI): 通過GC或標準品進樣口將樣品導入離子源,CI離子源需要依據待測化合物而選擇試劑氣體種類,FI則不需要。

場脫附法(Field Desorption, FD): 將樣品直接塗在發射極(emitter)上,通以8-10 kV電壓離子化,適用於分析熱不穩定化合物、可溶於非急性溶劑的樣品、分散在溶劑中的粉末樣品、低至中極性的金屬錯合物、大分子量樣品(如聚合物等)。

 

從非揮發性化合物快速得到離子資訊

  • 混合型EI/FI/FD離子源裝置

加裝單個離子源,即可以在完全不須更動硬體情況下切換不同離子化方式,同時擁有EI(硬性離子化方式)和FI/FD(軟性離子化方式),無須卸除真空、無須拆卸離子源及無須更換GC-interface。

 

  • 直接進樣系統 (Direct Insertion Probe, DIP/DEP)

AccuTOF GCx-plus進樣方式不只是包含GC進樣,還能夠選擇探針方式直接進樣分析,以不通過GC方式直接進行高沸點樣品的快速分析

直接插入式探針(Direct Insertion Probe, DIP):

將固體或液體樣品放入窄玻璃管中,再經由探針直接加熱樣品而直接離子化,應用於高沸點化合物的分析。

 

直接暴露式探針(Direct Exposure Probe, DEP):

將液體樣品放置探針的Pt細絲上,再經由探針施加電流而直接離子化,應用於高沸點及熱不穩定性化合物的分析。

 

  • 二維氣相層析技術(GCxGC)

全面型二維層析法(Comprehensive 2D GC, GCxGC),選用兩種不同極性不同的管柱以串連方式連接在一起,經第一支管柱分離後的沖提物由調節器(Modulator)進行捕有序地捕捉,捕捉的沖提物再送入第二支管柱進行快速分析,二維氣相層析GCxGC比傳統一維層析上提高10倍以上的解析度,以及提高5-10倍的靈敏度,同時也能解決co-elute的問題,即使是微量化合物也可進行精確質量分析,獲得的圖譜峰寬非常尖銳,因此需要能夠快速採集數據的檢測器。

 

在保持高質量解析度的情況下,以50 spectra/sec的超高速採集速度情況下,AccuTOF GCx-plus能夠進行GCxGC-TOFMS分析,並同時確保了層析峰中有足夠的數據點。二維氣象層析系統搭配高解析飛行時間質譜儀,可分析複雜成分的有機化合物,如石油、精油、熱裂解後產物等樣品,並對未知化合物作定性。

 

  • 軟體分析

由於AccuTOF GCx-plus具有優異的硬體分析、快速的數據處理,應用廣泛因此需搭配各種數據處理軟體。

msFineAnalysis: 多功能性定性軟體,可使用五種不同方法來自動分析,可結合兩種不同游離方式的數據(GC/EI, GC/CI, FI PI等),適用於化合物的定性分析

 

PolymerixTM: 適用分析高分子材料之分析,根據FD數據計算出聚合物的平均分子量、聚合度、分散性等,還能夠推測出重複單體結構

 

GC ImageTM: 二維氣相層析GCxGC分析軟體

Mass MountaineerTM: 同位素化合物分析

Diok: 針對戴奧辛;PCB like等汙染物之定性與訂量

 

規格說明

AccuTO GCx-plus (JMS-T200GC)
質量掃瞄範圍 m/z 10,000 or more
解析度 > 10,000 (FWHM)
質量精準度 1 mDa or  3 ppm
離子源 EI
離子源 (選配) EI/FI/FD、FD/FI、EI/PI、CI
直接進樣系統 DIP、DEP、FD/FI
質量分析器 Reflectron Time-of-Flight analyzer
偵測器 Micro Channel Plate (MCP)
真空系統 Turbo molecular pump and Rotary pump

適用產業及應用

精確質量分析、高分子材料、石化產業、有機合成、食品檢驗、環境分析、代謝物分析、有機金屬分析、香料分析

 

委測檢驗

  應用領域 樣品型態
GC-TOF 精確分子量、藥物、環境、食品、環境、高分子

液體

可溶之固體
Py-GC-TOF 原料或材料、添加劑、高分子材料

液體

固體
FD/FI-TOF

高分子材料、染料、熱不穩定性化合物、低至中極性金屬錯合物

分散在溶劑中的粉末
可溶之固體液體

EI/FI-TOF 未知化合物鑑定

液體

可溶之固體
有機合成
高分子合成

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