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13.Nov.2012
X-ray螢光-XRF XRF突破傳統新技術-與土壤重金屬調查評估同步上路
行政院環保署於民國95年1月第一次頒佈有關掌上型XRF污染檢測應用，並正式發表第一篇有關土壤和底泥中元素濃度快速篩選方法(注一)，並且又於101年3月再次頒佈廢棄物、土壤、底泥及毒性化學物質中元素含量檢測方法草案(注二)，兩者皆說明使用能量分散式X射線螢光光譜儀。並且，美國環保署(EPA)資源保護與回收法中，也針對重大污染物與重金屬檢測要求，說明以攜帶式X-射線螢光光譜儀，來分析並推估土壤和污泥中重金屬元素濃度，並且在EPA Method 6200 (注三)中，詳述XRF為現場檢測土壤中金屬含量的標準方法。
新開發50kV掌上型XRF土壤重金屬分析儀，徹底有效分析難以偵測的重金屬元素檢測下限，過往一般掌上型XRF因為體積大小受限及輻射安全關係，致使掌上型XRF雖然很方便，但應用於土壤元素複雜時，元素之間互相干擾，檢測器效率不足以分析低濃度的Cd及Hg及Cr等問題。尤其Cd元素，臺灣環保署公告八大重金屬中，對於食用作物用農地，Cd元素控制在5ppm，但因為手提式XRF使用光管電壓(一般40kV或更低)，致使無法有效率激發Cd元素。 Delta P-50 使用了全世界最有效率的SDD感測器(30mm2)，並改善光管電壓提升至50kV，同時利用八種濾波器分別針對不同區段元素做有效激發，並在輻射出口利用特殊鋁合金加銅加強散熱及阻擋輻射線，提升光管及檢測器更長的建議使用時間。
Olympus Innov-X DELTA掌上型XRF土壤分析儀所附之土壤分析參考物質符合環保署所發佈之參考物質( 如下 ) :
N2709 - National Institute of Standards & Techology (NIST) – Soil
N2710 - National Institute of Standards & Techology (NIST) - Soil
N2711 - National Institute of Standards & Techology (NIST) – Soil
如下提供 ｢土汙法8、9條法規｣ 最新修改說明 及XRF快篩工具在評估調查中之使用時機及重要性
【總結】
XRF的應用日趨廣泛，而手提式XRF現地快篩的重金屬分析儀更為環境檢測帶來了快速、方便、現地即時分析的好處。例如：環保署訂立之土壤八大重金屬污染管制標準、土壤地下水污染整治法第89條、廢棄物管理、底泥品質標準和一般RoHS、REACH、CPSIA指令等需求，皆可透過XRF進行快速重金屬篩測，並且Innov-X DELTA 掌上型XRF更可針對基質複雜的黑土(高鐵)或紅土(高銅)等不同樣品，進行檢量線配置，達到符合特殊現地篩測高準確性檢測。
【分析重點】XRF檢測方法補充說明 :
水含量的影響 : 水份若超過20%或當土壤、底泥樣品表面含有較多水量時，水份含量影響將會是一個主要誤差來源，降低此類誤差來源為烘乾樣品。
土壤的偽陽性 : Innov-X DELTA土壤重金屬分析儀，整合土壤基質背景資料庫，具完善的土壤內建演算法，針對不同土壤樣本形式，有效避免土壤所產生的偽陽性資料誤判。
【注一】 NIEA S322.60C【土壤和底泥中元素濃度快速篩選方法-攜帶式X-射線螢光光譜儀分析法】
【注二】 NIEA M320.00C【323草案-廢棄物,土壤,底泥及毒性化學物質中元素含量檢測方法-X-射線螢光法】
【注三】 EPA Method 6200 【Field Portable X-Ray Fluorescence Spectrometry For The Determination of Elemental Concentrations in Soil and Sediment】
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