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13.Sep.2011

熱傳導-TC 工業材料-散熱片熱傳導測試方法

文章-橫幅
 

簡介:矽膠的材質柔軟,可使機件表面相互較密合地接觸,降低接觸熱組的產生。使用上其優點擁有極佳的電氣特性,並具有耐高(低)溫、抗酸鹼、防水、抗UV的特性。因此就有一些絕緣導熱的產品就是在矽膠裡面加入一些導熱成分,形成絕緣導熱材,提升機件的使用功率及延長壽命。可應用在電子產業、精密儀器、汽車業、手機、GPS…等高科技產業。因為它的機械強度較差,所以要在低壓力的情況下使用,並且外型多以片狀及膏狀的型態來呈現。
 
一、原理說明:
Hot Disk的測量原理係基於瞬變平面熱源法(Transient Plane Source Method,簡稱TPS)。
在此方法中,感測器為一平面的探頭,探頭由導電金屬-鎳經刻蝕處理後形成連續雙螺旋結構薄片,探頭外層以雙層Kapton做為保護層,其厚度只有0.025 mm ,它令探頭具有一定的機械強度,同時保持探頭與樣品間的電絕緣性
 
探頭通常被放置於兩片樣品中間進行測試。Hot Disk 提供了不同材質、尺寸與構造的探頭供客戶選擇,適用於各種不同性質樣品的測試。在測試過程中,電流通過鎳時,產生一定熱源使溫度上升,所產生的熱量同時向探頭兩側樣品進行擴散,熱擴散的速度依賴於材料之熱傳導特性;儀器經由記錄溫度及探頭的反應時間,即可計算出材料的熱傳導係數(Thermal Conductivity)、熱擴散係數(Thermal Diffusivity)與熱容(Heat Capacity)等特性。

 

二、TPS 2500S規格:
符合規範
ISO/DIS 22007-2.2
熱導範圍
0.005~500 W/mK
熱擴散範圍
0.1~100 mm²/s
Up to 5MJ/m³K
量測時間
1~1280秒
確性
± 5%
確度
± 1%
度範圍
-20°C ~ 750°C
 
 
三、量測材料及數據:
A.樣品種類:矽膠絕緣散熱片
 
h1h12
 

B.測量條件:

使用方法
標準量測法(Standard Method)
適用範圍
標準測試法適合用於高度絕緣的高分子聚合物、陶瓷以及金屬等高熱導體。
感測器尺寸
C5465(半徑 3.189 mm)
測試溫度
26 degree (在常溫環境下測試)
測試功率
0.05 W
測試時間
20 sec
 
   
C.量測結果
 h2
 
完成即可得到熱傳導係數(Thermal Conductivity)、熱擴散係數(Thermal Diffusivity)與熱容(Heat Capacity) 等特性。無需再輸入比熱或密度。
 
 
四、測試分析圖:
 h3
(X軸為時間,Y軸為溫度)

Drift-可以知道樣品的溫度穩定性,樣品溫度不穩定熱傳導就會改變,此圖可以判端樣品是否溫度已穩定。

h4

(X軸為時間,Y軸為溫度)

Transient-檢測樣品在加溫的情形下溫度的變化,可以從圖形上知道樣品是否有明顯裂縫,或不同材質複合,或是樣品狀況好壞。
h5
 
 Calc-計算後數據的穩定性,線條呈現的越線性,測試出來的數據就越穩定。
 h6
h7

Residual-顯示200筆資料的溫度偏差值,對應到Mean Deviation的數值,數值越小越好。
而Drift的樣品溫度穩定性,將會直接影響此數據的變化。
Probing Depth-可以判端樣品大小是否適合。
Temperature Increase-可以知道量測時使用的加熱功率是否是最佳條件。
Total to Charac. Time-可以知道感測器是否選擇適合,測試時間是否是最佳條件。

 

五、結論:
TPS-2500S它符合了ISO-22007-2.2的規範,而每一次的量測熱導時間平均約1~2分鐘,而量測熱導的範圍又可以從低熱導0.005W/mk到高熱導500W/mk。此外,在接觸熱阻的部分可透過計算實際測得溫度的數據,有效的降低接觸阻抗對於熱導的影響,精準地計算出材料的熱傳導係數(Thermal Conductivity)、熱擴散係數(Thermal Diffusivity)與熱容(Heat Capacity)等特性。如下圖所示:

h8

 

並且無須特別的樣品製備,只需將兩個相對平整的表面置於探頭上,即可量測出樣品的熱導。如下圖所示:

h9

Hot Disk還可以對測薄膜(Thin Film)、高熱傳導片狀材料 (Slab) 、雙軸向的熱傳導異方向性量測 (Anisotropic) 及比熱(Specific)等多項測試。不論在材料的品質控管及研發上,都能提升最佳的檢測效率。
 
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