X-ray螢光-XRF Phoenix X-ray 影像新標準：Flash! Filters™ 自動智能對比強化技術

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Phoenix X-ray 影像新標準：Flash! Filters™ 自動智能對比強化技術

在精密電子與半導體檢測領域，清晰的影像品質是判斷產品缺陷的關鍵。Waygate Technologies 為其 Phoenix Microme|x Neo 與 Nanome|x Neo 系統開發了專屬的影像處理技術 —— Flash! Electronics™，旨在為使用者提供更快速、更可靠的缺陷檢測能力。

▲圖一 Xray系列：Microme|x Neo, Nanome|x Neo

什麼是 Flash! Filters™ 技術？
Flash! Filters™ 是一套自動智能影像灰階對比強化軟體。它突破了傳統 X-ray 影像在對比度上的限制，透過強大的運算能力，在單次點擊下即可對影像進行全自動優化：系統能自動調整影像灰階，將原本模糊不顯眼的細節清晰化。

▲圖二 Flash! Filters™自動智能影像灰階對比強化軟體

核心優勢：看到隱藏的缺陷

與傳統的 X-ray 檢查相比，經過 Flash! Filters™ 強化後的影像具有顯著差異：
1. 極高的缺陷覆蓋率：此技術專為電子檢測優化，能顯著提升對 BGA 錫球孔洞 (Voids)、QFN 封裝及微型電子元件缺陷的孔洞缺陷精準度。
2. 檢測效率提升： Flash! 影像優化可與 X|act 自動化檢測程式整合，確保在快速自動化檢測中依然維持極高的缺陷偵測可靠度。
3. 細節辨識力：即使是在高達 2,300 倍的幾何放大倍率下，Flash! 技術依然能清晰呈現 µBGA 內部的細微Void孔洞。

廣泛的應用領域

無論是手動 live 檢測還是全自動 AXI 流程，ㄒ都能為以下應用提供助力：
• PCBA 與打線封裝：強化引腳、焊點與線弧的清晰度。
• 鑄件與電池檢測：識別材料內部的微小裂紋或異物。
• 半導體檢測：適用於 pitch 僅 100 微米的高密度元件。