SMX-BEN

薄膜太阳能电池CIGS/CdTe分析仪
(Solar PV thin film CIGS, silicon-free substrates)

热门应用领域∶
镀层厚度分析

产品特色∶

1.   全球唯一能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。

2.   超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm

3.   可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品
       质。

4.   针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种

5.    X-Y-Z三轴自动定位，轴承最长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div>

6.   具有表面相对等距自动调整系统

7.   采用自然光，LED白光，无色差

8.   采用最新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器

9.   具有防撞安全装置

10. 具有操作时辐射安全装置

11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。

X射线发生部	电压	最大50kV，多段电压切换
	电流	4-1000μA，可做自动调整设定
	准直器	共五个
	侦测器	Pin or Si
检测器	冷却方式	电子冷却
	五种滤波器自动切换
电源	AC110~240V, 50/60 Hz

镀层厚度分析

(1)分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。 (2)分析CdTe之各镀层的厚度及成份同时测量。 (3)三、五族元素各镀层的成分比例及厚度分析。

No.27 回收塑料风险管控与CPSIA管制的关系	科迈斯集团电子报
... 详全文

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