SEA6000VX

桌上型X射线萤光分析仪SEA6000VX
(Desk-Top X-ray Fluorescent Analyzer, XRF)

热门应用领域∶
RoHS/WEEE 合金分析 镀层厚度分析 映图扫描分析(Mapping) 太阳能应用 无卤素应用

1. 高速扫描测量
      通过?合了大幅提高的微小区域X射线莹光分析灵敏度和高速电动平台，能够快速获得二维扫描图像。特?是?化了对线路板中铅的扫描，配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。

2. 宽视野高清晰度光学系?

        可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。以该光学影像可以直接精确指定测量位置，让操作性得到飞跃般的改善。此外，该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠，可在大范围?进行高精度分析。

3. 微小区域中微量金属的高速测量

      实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器，加上充分考虑到X射线莹光检测效率的设计，实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间?测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。

 

4. 无需液氮的高计数率检测器

      作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器，省去了繁琐的液氮补?程序。仅需数分钟的开机时间，同时电子冷?的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以?少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳，以及提高测量速度後节省下的电力等，是一款考虑到环保问题的先进仪器。

 

5. 微小区域的镀层厚度测量

      可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu（金/镍/铜）等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外，也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。

X射线发生部	照射方式	上部垂直照射方式
	电压	最大50kV，多段电压切换
	电流	4-1000μA，可做自动调整设定
	准直器	4个，Φ0.2mm、Φ0.5mm、Φ1.2mm、Φ3mm (自动切换)
检测器	形式	Vortex矽半导体多阴极侦测器
	冷却方式	电子冷却(不需要液态氮，也非冷冻机冷却)
一次滤波器	五种滤波器，6种模式可自动切换
样品观察	CCD监视器	高解析度CCD彩色镜头 双系统
	观察倍率	多倍数自动切换-
	照明	LED灯，无影灯设计影像无阴影
	同轴观察系	视野∶6×4mm 解析度∶20um WD∶5mm、15mm、25mm电动
	广域观察系	视野∶250×200mm 解析度∶20um以下
自动桌面弁?/div>	指定测量位置	在画面上利用滑鼠完成X-Y-Z的坐标输入
	设定测量位置	原点的坐标和画像保存以及位置偏差角度的修正
	确认测量位置	图表表示测量位置
	再测量弁?/div>	通过和测量位置的连动，可以进行再测量
样品台	250(W)x200(D)mm
移动量	最大580(W)x450(D)x150(H)mm
最大样品厚度	150mm
载重量	5kg
电源容量，接地	AC 100V±10% 15A 2系统 第3种接地

RoHS/WEEE

(1)满足欧盟RoHS指令，以及各国针对电子电机产品中有有害物质含量的快速检测分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。 (2)针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准，利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法，满足厂商简易的需求。

合金分析

(1)金属材料品质控管 :合金中主成份的快速分析。 (2)合金成份的鉴定 : 有效分辨材质相近合金种类，如∶304/321 (3)贵金属的分析鉴定 : 贵金属金、钯、铂、银等含量分析 (4)金属回收与分类 : 依金属成份含量做分类 (5)回收汽车催化剂中，金、铂、铑的成份分析

镀层厚度分析

(1)分析电子部品电镀层的厚度 (2)各类五金电镀件的镀层厚度管控分析 (3)各镀层的成分比例分析

映图扫描分析(Mapping)

(1)可进行PCB插件之後的直接分析，不需要拆解，100mmX100mm尺寸大小只要30分钟即可完成各项元素成份分布情况。 (2)直接分析各种组成元素的分部位置及浓度分布。 (3)结合样品影像及元素分布，标定元素位置。

太阳能应用

(1)CGIS太阳能厚度分布检测 多点位置成份材质鉴定

无卤素应用

(1)针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准，利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法，满足厂商简易的需求。 (2)快速分析无卤素成分分析。 无卤成分分布，或多点材料同时检测。

... 详全文
... 详全文
... 详全文
元素周期表查询	技术原理
元素周期查表 ... 详全文
无卤素材料(Halogen Free)专用分析仪-离子层析仪(Ion Chromatography,IC)原理简介	技术原理
无卤素材料(Halogen Free... 详全文
何谓检出限界	技术原理
何谓检出限界 一、何谓检出限界(Det... 详全文
浅谈美国CPSC实施儿童玩具新进口强制性规定，利用非破坏性检测(XRF)解决方案	相关法令
浅谈美国CPSC实施儿童玩具新进口强制性... 详全文
加州65号法案针对脚踏车及其配件含铅量及其标示规定！	相关法令
加州65号法案针对脚踏车及其配件含铅量及... 详全文
浅谈欧盟REACH新规范及对应方法	相关法令
浅谈欧盟REACH新规范及对应方法 &... 详全文
挪威PoHS法令	相关法令
挪威PoHS法令  &nbs... 详全文
全球无卤素(Halogen Free)的趋势及最新的检测技术-利用X光萤光光谱仪原理(X-ray Fluorescent Analyzer, XRF,ED-XRF)及离子层析仪原理(Ion Chromatography,IC)来检测无卤素材料(Halogen Free)	相关法令
全球无卤素的趋势及最新的检测技术-利... 详全文
从苹果(Apple) i-phone看全球无卤素材料(Halogen Free) 趋势	相关法令
从苹果(Apple) i-phone看全... 详全文
圣诞节对於玩具市场的冲击效应，如何使用XRF做好快速非破坏进料品管	相关法令
圣诞节对於玩具市场的冲击效应，如何使用X... 详全文
美国海关使用手持式XRF(携便式 XRF)查获Curious George Plush Dolls 含铅过高	相关法令
美国海关及环境卫生中心使用手持式XRF(... 详全文
中国RoHS北京已开跑，首例为日资三洋及陆资诺亚舟两家	相关法令
中国RoHS北京已开跑，首例为日资三洋及... 详全文
中国政府的电子资讯产品污染控制管理办法(中国RoHS或中国RoHS标准)，首先开罚公司名单，直接上网公告	相关法令
中国政府的电子资讯产品污染控制管理办法(... 详全文
因应北京奥运，中国政府的电子资讯产品污染控制管理办法(中国RoHS或中国RoHS标准)，已开始加强严格执行	相关法令
因应北京奥运，中国政府的电子资讯产品污染... 详全文
国际大厂及欧盟_EU_环保规范之管制要求	相关法令
国际大厂及欧盟(EU)环... 详全文
辐防申请应备文件 可能发生游离辐射设备使用登记申请应备资料	相关法令
可能发生游离辐射设备使用登记申请应备资料... 详全文
欧盟RoHS管制得特定有害物质	相关法令
针对欧盟RoHS规定品管检测机制的建立 ... 详全文
RoHS－排外条款说明	相关法令
RoHS－排外条款说明   ... 详全文
新版IEC 62321 111/95/CDV标准(Stardand)中，如何使用X光莹光光谱仪(XRF,ED-XRF)制定总溴(Br)的管制浓度，来符合快速筛选(screening)弁遄A减少化学分析(wet chemical analysis)分析无卤素(Halogen Free，HF)的溴(Br)	测量技巧
新版IEC 62321 111/95/C... 详全文
IEC六价铬比色浓度对照资料库线上操作教学	测量技巧
IEC六价铬比色浓度对照资料库线上操... 详全文
全球绿色电子产品指南(Guide to Greener Electronics)排名第8版发布─SONY ERISSON 夺冠(Greenpeace 绿色和平组织)	大厂经验
全球绿色电子产品指南(Guide to ... 详全文
SII XRF针对RoHS检测快速分析软体之开发	大厂经验
SII XRF针对RoHS检测快速分析软... 详全文
全球知名大厂重金属限制标准	大厂经验
全球知名大厂重金属限制标准 &... 详全文
针对欧盟RoHS规定品管检测机制的建立	大厂经验
针对欧盟RoHS规定品管检测机制的建立 ... 详全文
松下(Panasonic)三星(Samsung)使用高精密度桌上型XRF卤素(Halogen)之分析能力说明	仪器介绍
松下(Panasonic)三星(Sams... 详全文
Seiko SEA1000A系列XRF在分析塑料及电子元件中有害重金属的优势	仪器介绍
Seiko SEA1000A系列XRF在... 详全文
Seiko SEA2210A系列XRF在分析塑料及电子零件中有害重金属的优势	仪器介绍
Seiko SEA2210A系列XR... 详全文
绿色和平组织(Green Peace)全球手机及电脑品牌排行-Version 9	产业分析仪器说明
绿色和平组织(Green Peace)最... 详全文
利用热分析评估各种无卤(HF-Halogen free)阻燃剂(FR,Flame Retardant)的裂解及裂化温度与特性	产业分析仪器说明
利用热分析评估各种无卤(HF-Halog... 详全文
松下(Panasonic)及索尼(Sony)之无卤电缆(线)材料发展现况及UL94 V-0(UL94V-0)之定义	产业分析仪器说明
松下(Panasonic)及索尼(Son... 详全文
绿色建筑材料利用XRF与离子层析仪(Ion Chromatography,IC)检测之分析应用	产业分析仪器说明
绿色建筑材料利用XRF与离子层析仪(Io... 详全文
欧盟(EU) RoHs 76/769/EEC指令限制全氟辛烷磺酸(PFOS)销售与使用─PFOA/PFOS检测-高效低价的专利检测液相层析仪(RP-HPLC)分析	产业分析仪器说明
欧盟(EU) RoHs 76/769... 详全文
平炉炼钢厂运用非破坏式XRF筛选出高纯度金属废渣的竞争优势	产业分析仪器说明
平炉炼钢厂运用非破坏式XRF筛选出高纯度... 详全文
欧盟RoHS新法─111/95/CDV六价铬之定性及定量测试说明	产业分析仪器说明
欧盟RoHS新法─111/95/CD... 详全文
从生活工场所销售的商品及市售微波盒重金属含量过高事件，浅谈XRF对产品品管检测─XRF原理简介及流程	产业分析仪器说明
从生活工场所销售的商品微波盒重金属含量过... 详全文
Innov-X XRF不锈钢X-ray分光仪	产业分析仪器说明
Innov-X XRF不锈钢X-ray分... 详全文
Innov-X Alpha 2000在矿石及合金成分作快速分析	产业分析仪器说明
Innov-X Alpha 2000在矿... 详全文
Smart Cr+6六价铬测试分析仪	产业分析仪器说明
Smart Cr+6六价铬测试分... 详全文
电子废弃物回收再利用─桶桶变黑金	产业分析仪器说明
电子废弃物回收再利用─桶桶变黑金 ... 详全文
无卤( Halogen free )化检验验证规范最新进展	产业分析仪器说明
无卤( Halogen free )化检... 详全文
绿色和平组织(Green Peace)绿色排行榜Nokia蝉联第一名,第10版(Version 10)	产业分析仪器说明
绿色和平组织(Green Peace... 详全文
绿色设计加强电子废物污染环境防治管理解决方案	产业分析仪器说明
绿色设计加强电子废物污染环境防治管理... 详全文
塑胶材料在SS-00259管理办法中该如何选择(ICP或XRF,ICP与XRF比较表) 来检测八大重金属	比较表
塑胶材料在SS-00259管理办法中该如... 详全文
XRF 与ICP采购效益评估	比较表
X射线萤光分析仪（XRF）与 ICP ... 详全文
波长分散方式(WDS-XRF)与能量分散方式(EDS-XRF)之比较	比较表
波长分散方式(WDS-XRF)与能量分散... 详全文

对此产品有疑问吗？建议您可以先参考常见问题集，如果还是不能解答您的疑问，我们将有专人竭诚为您服务。

常见问题集

什麽是映图扫描(Mapping)??

所谓的映图扫描(Mapping)，是指将大区域的测试范围，细分成几个细小的测试小范围，然後，逐一进行每一个细小范围的测试，将每一结果拼凑成整体大区域范围的测试结果。举一个例子，例如要捕捉整个上海外滩的高楼风景，即使是用广角相机也无法完整而不失焦的捕捉整个风景，一此可以用照相机以定点对焦的方式，分段照射每一个区段的景致，再将每一个区段的照片拼起来，就可以得到整个上海外滩完整而不失焦的连续相片，这就是所谓的映图扫描(Mapping)。

映图扫描(Mapping)可以做什麽??

映图扫描的优点是可以一次将大范围的测试物件，在步破坏样品的情况之下，进行样品的特异性分析，例如：
(1)样品中元素组成成分的分析，以及其元素分布范围;
(2)电镀膜厚镀层种类及厚度分析;
(3)材质鉴定分析;
(4)特定区域选择性非破坏分析;
(5)多点式快速材质分析┅等等。

映图扫描如何进行??

以SEA6000VX为例，作一片电路板的映图扫描，会先将一整片的电路板，透过高解析度的光学镜头，以一个区块一个区块的照射方式，将整个PCB的影像呈现，在选择要分析的位置，进行成分的分析，或者是镀成厚度的分析。

以SEA6000VX映图扫描进行整块电路版的成分分析需要多少时间??

以SEA6000VX分析100mmX100mm的电路版，只要30分钟即可快速的分析电路板中零件及焊锡中有害物质的含量分布范围。而一般传统的映图扫描仪器分析50mmX50mm至少要72小时，新一代的SEA6000VX可以大大的节省时间。

SEA6000VX可以测试无卤素吗??

可以。SEA6000VX采用超高解析度及高灵敏度Vortex检测器，不需要真空环境即可得到氯(Cl)元素分析能谱，即使是50ppm以下的浓度，也能灵敏的感测到。

SEA6000VX和其他映图扫描仪器最大的不同在哪里??

(1)测试速度快，是一般映图扫描仪器至少快100倍。
(2)灵敏度高，采用SEM-EDX专用之高阶侦测器，灵敏度至少比一般设备高10备。
(3)高解析影像，影响解析度可达0.2μm，而且影像无接缝残影及阴影。
(4)最先进之机型，结合各项光学技术及X-ray分析技术的绝佳机种，搭配精工特有符合人性操作便利性的操作软体，构成一套非破坏检测的最佳工具。