
SEA5100A
微区分析X射线萤光分析仪
(Micro X-ray Fluorescent Analyzer, XRF)
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1.高灵敏度、高解析度2.微区分析型XRF泛用机种,兼具元素分析与膜厚量测弁?/div>3.定性定量范围可从碳(Na11)到?U92)4.配置全自动XYZ轴样品自动移动平台,具备样品元素成份分布分析(Mapping)检测弁遄C5.膜厚镀层分析灵敏度高,针对镀金(Au)的最低厚度分析能力可达5 nm,是BGA、半导体封装等高感度要求的客户是唯一的选择。
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X射线发生部照射方式上部垂直照射方式电压15,45,50kV 3段切换电流4-1000μA靶材Mo准直器2个(自动切换)检测器形式Si(Li) 半导体检测器真空瓶容量10升消耗量1升以下/天测定元素,检测器N ~ U (Be窗口)样品观察CCD监视器彩色,40万像素,1/2英寸观察倍率30倍,90倍自动切换-照明卤族元素灯真空样品室样品室门抽出式真空泵排气式真空泵(13pa)真空计Pirani gauge排气所需要时间2分,5-10分(大型样品室)自动桌面弁?/div>指定测量位置在画面上利用滑鼠完成X-Y-Z的坐标输入设定测量位置原点的坐标和画像保存以及位置偏差角度的修正确认测量位置图表表示测量位置再测量弁?/div>通过和测量位置的连动,可以进行再测量样品台80*80mm移动量75*75*35mm最大样品厚度35mm载重量3kgX射线管球自动聚焦管电压50kV管电流固定准直器Φ0.1mm实际照射尺寸Φ0.12mm外形尺寸590(W)*75(D)*710(H)mm 90kg电源容量,接地AC 100V±10% 15A 2系统 第3种接地
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