- 技術原理 -
07.Nov.2017
X-ray螢光-XRF XRF金屬材料快篩(PMI)檢測
XRF螢光分析(X-Ray Fluorescence)由於可在不破壞待測物的情況下，於幾秒內迅速測得該物的材料成份分析PMI (Positive Material Identification)。而儀器本身已內含近千筆合金型號，如常見的不銹鋼(304、316)，鋁合金(6061、2024)、銅合金(C230、C425)型號等。待測物若測得的元素趨近於合金型號，大資料系統即會透過儀器自動運算匹配近似的合金型號種類(詳圖1)。並且在畫面中會顯示該型號的元素含量對照表，省去人員在分析完成後，還需要自行去搜尋與比對該型號的元素差異性，直接第一時間迅速判斷。
▲圖一 掌上型XRF檢驗管路元素及型號比對
然而，掌上型XRF時常會需要攜帶至現地檢測管路、鋼材，或是攜至其它廠區檢測，因此偶爾會發生碰撞甚至不慎摔到儀器等狀況。Olympus Vanta通過軍規(MIL-STD-810G) 4英尺的高處墜落測試，突破業界無法做到的技術，此次就針對戶外檢測的使用者，提供實用的新技術，讓使用者輕鬆且安心的檢測(詳圖2)。Vanta檢測資料可隨測隨傳至雲端，及時性大為提升，並讓使用者可以克服任何天候狀況且不必再時常擔心儀器碰撞。
▲ 圖二 Vanta XRF新穎特點
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