MAT090003 无卤材料控管的建议

 无卤材料控管的建议

 QC Inspector的无卤分析检测下限约在Cl:150~200 ppm ; Br: 1 ppm对於一般材料做无卤素分析完全没有问题，但对於一些特殊状况或材料，并非就XRF可以解决，此时IC离子层析会是唯一选择。例如电子行业或半导体内的很多化学材料或溶液，需控管Cl离子在50ppm以内，50ppm的浓度已低於目前XRF的检测能力，如可以测试也太接近检测下限，定量准确度不佳，此时必须选择IC来作IC离子层析控管，另外如一些材料如银胶或银浆，其内部含有高浓度的Ag，Ag金属会吸收氯产生的莹光，而且银的能谱能量太接近Ar及Cl，一般银胶或银浆中的银比例都很高约有40~80%的银，XRF中的Ag，能谱讯号很大会将Cl的检测下限提高很多，造成此种材料Cl检测下限很高，此类材料则以IC测试较为适合。