XRF080021 现场土壤采样筛选检测(EPA6200 Method, NIEA S322.60C)的最佳利器

现场土壤采样筛选检测(EPA6200 Method, NIEA S322.60C)的最佳利器

 

       近年来工商业发达，其相关产业产生之废弃物或废水，或石化业及废五金燃烧产生之排烟及落尘等问题，均可能造成土壤不同程度的重金属污染，其可能污染土壤的重金属主要有砷(As)、镉(Cd)、铬(Cr)、汞(Hg)、镍(Ni)、铅(Pb)、锌(Zn)及铜(Cu)等八种。根据行政院环保署土壤及地下水污染整治网上所公布的污染现况，『国内外农作物遭重金属污染事件层出不穷，主要为镉、汞污染造成糙米中镉、汞含量超过公告限值，而90年於潮州仑顶段附近亦发生土壤含铜量偏高事件，显示台湾地区农地重金属污染已威胁到民众之健康。』其他例如农地重金属污染比较有名的案例∶(1).桃园中福地区镉污染，(2). 彰化镉米事件；工厂重金属污染比较有名的案例∶(1).台硷安顺厂汞污染，(2).台北市高银化工汞污染等，可见目前重金属镉、汞等的污染厂址的调查、筛选与整治已是目前重要的课题。

 

        携带式X-射线萤光光谱仪(XRF，Alpha4000、X-50)由於具有携带方便、非破坏、以及现地采样检测的优点，各国环保单位纷纷采用X-射线萤光光谱仪作为土壤中重金属污染先行采样筛选的工具，包括美国EPA所颁布的【EPA6200 Method】筛选采样方法，以及依据行政院环保署环境检验所 【NIEA S322.60C】所公告的「土壤和底泥中元素浓度快速筛选方法－携带式X-射线萤光光谱仪分析法」，目前已经有越来越多的业者利用携带式X射线萤光光谱仪做为现地调查不可或缺的工具。

 

        以目前法规所规定的重金属分析方法，采样的土壤必须经过自然风乾、过筛、消化前处理之後，才能进行AA或者是ICP上机测试，从采样到实际得到分析报告至少需要两个星期的时间，因此，无论是在先期确认污染厂址的土壤采样初步筛选、污染范围细密调查作业，甚至於污染整治过程中成效上的即时评估或客土的品质好坏与否，都可以利用携带式X-射线萤光光谱仪(XRF，Alpha4000、X-50)作为快速的检测工具，提供即时的重金属污染状况，增加分析上的时效性。

 

       X-50除了具有携带式XRF的轻巧便利外，兼具桌上型XRF的低侦测下线及准确性前携带XRF中精准度最佳、侦测下限最低的携带式XRF，尤其是针对镉(Cd)、汞(Hg)重金属元素一般的携带式XRF很难达到很低的检测下线，全新机种X-50针对镉(Cd)、汞(Hg)这两元素可达到1ppm的侦测下限，可以满足检测农地的低检测标准，目前X-50该机型已经正式被台湾的检测业者引用，作为镉(Cd)、汞(Hg) 现地采样筛选的最新利器，可以提供更全面、更精确的土壤筛选能力。

下图为X-50携带式X-射线萤光光谱仪与感应耦合电浆光谱仪(ICP)实际比对的结果。

【Hg】 
                                   

【Cd】

 

【As】         

【Cr】

【Cu】

【Pb】

【Ni】   

【Zn】

 

X-50携带式X-射线萤光光谱仪特点：

1.操作便利：Windows 操作介面，易学易操作，报告输出便利。

2.侦测下限低：具有桌上型XRF相当的低侦测极限，尤其针对镉(Cd)、汞(Hg)这两元素可达到1ppm的侦测下限。

3.操作安全性高：具有密闭式检测空间，提高辐射操作安全性。
4..携带方便：电脑、样品室、测试本体一体成型，体积小携带方便。